X射線熒光鍍層測厚儀-膜厚計 返回列表頁

   CMI900系列X射線熒光鍍層測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。

行業

用于電子元器件，半導體，PCB，LED支架，五金電鍍，連接器等……多個行業表面鍍層厚度的測量。

CMI900系列X射線熒光鍍層測厚儀專業生產廠家優勢：

杰出的*穩定性： 

·自動熱補償測量儀器溫度，糾正變化，提供穩定的結果

·簡單快速的光譜校準，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供必要的糾正

堅固耐用的設計

·可以在實驗室或生產線上操作

·堅固的工業設計 

·經行業驗證的技術，在銷售量超過3000臺

有效調整生產過程，從而提高生產力

·確保元件可靠性

·優化質量控制，從而確保產品生命周期

·測量焊料合金成份和鍍層厚度

·分析導電性鍍層金和鈀的厚度

·測量電腦硬盤上的NiP層厚度

電鍍處理的成本zui小化，產量zui大化

·快速簡單的分析

·同時進行單層或多層鍍層厚度測量及成份分析

·zui多可分析4層（不包括基層）

·鍍液成份分析

珠寶及其他合金的快速無損分析

·貴金屬合金分析

·黃金純度分析

·材料鑒定

CMI900系列X射線熒光鍍層測厚儀專業生產廠家樣品種類：                          

鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)

可檢測元素范圍：Ti22 – U92

可同時測定5層/15種元素/共存元素校正

貴金屬檢測，如Au karat評價

材料和合金元素分析，
材料鑒別和分類檢測
液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
元素光譜定性分析

CMI900系列X射線熒光鍍層測厚儀專業生產廠家使用方法：

  儀器裝上電池后，按下“ON/OFF”按鍵開機，等蜂鳴聲響后，液晶顯示屏上顯示"0"時，儀器自動進入測量狀態，直接將測頭垂直并快速緊壓到工件表面的涂鍍層上，儀器通過測頭自動測量出涂層厚度，并通過顯示屏把厚度值顯示出來（注意：測量時注意測頭保持垂直）

CMI900系列X射線熒光鍍層測厚儀專業生產廠家功能技術參數：

  測試模式：儀器默認為連續（CONT INUE）測量模式，因為連續測試更能減少手誤操作誤差，這性能技術高于一般同行的涂層測厚儀水平，一般的涂層測厚儀只有單次測試模式，東儒DR系列測厚儀都可以調節連續測試和單次（SINGLE）測量方式。

 統計功能：一般涂層測厚儀需要手工操作記錄數據，然后計算平均值等，東儒涂層測厚儀設置了自動求取zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、平均值（MEA）、測量次數（No）四個統計功能，更便捷，簡單，方便。

 存儲功能：這是區別于一般涂層測厚儀的分界線，DR260/270/280測厚儀可存貯800多個測量數據，連接電腦導出數據*保存，打印存檔，留住輝煌成就，更具*性。

 測量范圍：0-1250/3000μm（超過1250μm要提前告知廠家另行定制）

 使用環境：溫度：0℃-50℃,濕度：20%RH—90%RH,無強磁場環境下使用

 分辨率：0.1μm /1μm（100μm以下為0.1μm,100μ以上為1μm）

 zui薄基體：0.4mm

 測量精度：±（1%-3%） 1.5μm

 外形尺寸：130mm*70mm*24mm

 電源：三節（7號）堿性電池

 重量：100g

 特點：小體積，重量輕，便攜，現場測量，可以用于實驗室內，電子數顯，大液晶顯示屏，背光，連續測試，統計功能等。

  全國聯保，一年保修，終生維護，七天包換，損耗材價格實惠。