博曼XRF熒光鍍層測厚儀BA100-G-S 返回列表頁

   博曼XRF熒光鍍層測厚儀BA100-G-S可搭載高分辨率的固態探測器，良好的元素分辨率，無需二次濾波器，峰位長時間保持穩定，無需頻繁地進行標準片校準；

   博曼XRF熒光鍍層測厚儀BA100-G-S采用幾何緊湊式結構，激發源到樣品的距離只有其他同類機型的三分之一，有效的提高儀器測量產品精度的效率；

   博曼XRF熒光鍍層測厚儀BA100-G-S可提供三種不同的樣品平臺供用戶選擇：

 1：標準固定平臺；

 2：馬達驅動/可編程XY平臺；

 3：加寬的可編程XY平臺

   博曼XRF熒光鍍層測厚儀BA100-G-S儀器應用于航空航天、汽車、緊固件、PCB、FPC線路板、電子元器件、端子連接器、磁體、半導體、生物、能源、石化、貴金屬等行業。

常見的鍍層應用:

PCB行業

Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引線框架

Ag/Cu

Au/Pd/Ni/CuFe

半導體行業

Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材

Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

線材

Sn/Cu

珠寶、貴金屬

10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質分析、溶液分析、電鍍液分析等