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產地	國產	加工定制	是

X熒光鍍層測厚儀X-Starata920在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。

X熒光鍍層測厚儀X-Starata920廠家產品優勢

1、高性能、高精度、*穩定性

快速精確的分析帶來生產成本*化

精確測定元素厚度

優化的性能可滿足廣泛的元素測量

2、堅固耐用的設計

可靠近生產線或在實驗室操作

生產人員易于使用

3、簡單的校準調試

在沒有標準片時，經驗系數法或基本參數法可以提供簡單可靠的定量結果

方法建立只需幾分鐘

我們提供認證標準片以確保良好精確度（A2LA 和 ISO/IEC17025）

預置了多種校準參數

4、可分析多種樣品形狀和尺寸

可分析多種樣品類型，從微小的電子元件到浴室配件

提供多種硬件供選配，滿足各種需要

X熒光鍍層測厚儀X-Starata920廠家儀器特點：

1．儀器外觀選用*的流線型設計，時尚雅致。

2．同時分析元素周期表中由硫(S)到鈾（U）。

3．可以分析zui多5層鍍層，一次可分析元素多達24種。

4．無需復雜的樣品預處理過程，無損測試。

5．檢出限可達到2ppm。

6．分析測量動態范圍寬，可從0.005μm到60μm。

7．采用美國原裝、*的探測器，能量分辨率高。

8．采用美國原裝、*的AMP，處理速度快，精度高，穩定可靠。

9．X光管采用正高壓激發，激發與測試條件采用計算機軟件數碼控制與顯示。

10．采用彩色攝像頭，準確觀察拍攝樣品。

11．采用電動無極控制樣品平臺，可以進行X-Y-Z的移動，準確方便。

12．采用雙激光對焦系統，準確定位測量位置。

13．高度傳感器。

14．保護傳感器，有效保護探測器。

15．精確度高，穩定性好，故障率低。

16．輻射安全系統：隱蔽式設計、軟件、硬件三重射線防護系統多層屏蔽保護，輻射安全性可靠。

X熒光鍍層測厚儀X-Starata920廠家技術參數

項目名稱

具體描述

X射線激發系統

·垂直下照式X射線光學系統

·50W（50kV，1.0mA）空冷式微聚焦型鎢W靶X射線管

準直器系統

·單準直器組件；

·多準直器自動控制組件：zui多可同時裝配6種規格的準直器

·園形、正方形、矩形和多種規格尺寸準直器任選（紅色為常用的）：

類型	單位	準直器規格
圓形	mil	4	6	8	12	13	20
圓形	mm	0.102	0.152	0.203	0.305	0.33	0.508
矩形	mil	1x2	2x2	0.5x10	1x10	2x10	4x16
矩形	mm	0.025x0.05	0.05x0.05	0.013x0.254	0.254x0.254	0.051x0.254	0.102x0.406

測量斑點尺寸

在12.7mm聚焦距離時，zui小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準直器）

樣品室

開槽式樣品室，測量大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的線路板

項目名稱

具體描述

X射線激發系統

·垂直下照式X射線光學系統

·50W（50kV，1.0mA）空冷式微聚焦型鎢W靶X射線管

準直器系統

·單準直器組件；

·多準直器自動控制組件：zui多可同時裝配6種規格的準直器

·園形、正方形、矩形和多種規格尺寸準直器任選（紅色為常用的）：

類型	單位	準直器規格
圓形	mil	4	6	8	12	13	20
圓形	mm	0.102	0.152	0.203	0.305	0.33	0.508
矩形	mil	1x2	2x2	0.5x10	1x10	2x10	4x16
矩形	mm	0.025x0.05	0.05x0.05	0.013x0.254	0.254x0.254	0.051x0.254	0.102x0.406

測量斑點尺寸

在12.7mm聚焦距離時，zui小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準直器）

樣品室

開槽式樣品室，測量大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的線路板

樣品臺

固定樣品臺

·Z軸自動控制，移動行程：43mm （1.7"），XY軸手動控制

·zui大樣品高度33mm

·儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×305mm（16×30.3×12"）

加深樣品臺

·Z軸自動控制，移動行程：43mm （1.7"），XY軸手動控制

·zui大樣品高度160mm

·樣品倉有4個位置卡槽，相鄰卡槽垂直間距25.4mm，樣品臺支架可放置在不同位置的卡槽上，可測不同高度的樣品

·樣品倉內部尺寸（寬×深×高）：279×508×152mm（11×20×6”）

·儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×400mm（16×30.3×15.7"）

·自定義樣品臺：依據客戶要求提供更高的樣品臺，滿足高度＞160mm的樣品測量，倉內設置多個位置卡槽，相鄰卡槽垂直間距25.4mm

自動樣品臺

·Z軸自動控制，移動行程：43mm（1.7"）

·XY軸自動控制，樣品臺移動行程：178×178mm（7x7”）

·zui大樣品高度33mm

·樣品臺尺寸（寬×深）：610×560mm（24×22”）

·儀器外形尺寸（寬×深×高）：610×1037×375mm（24×40.8×14.8"）

·可提供對樣品的自動和編程控制，多點測量

·鼠標控制樣品臺移動，精確地定位樣品測量點

鐳射聚焦

·鐳射用于自動精確定位X射線光管/探測器與樣品到測試距離

·單擊鼠標，Z軸自動掃描

·Z軸自動聚焦到焦距12.7mm，同時將樣品圖像定焦（顯示在屏幕上）

·避免了人為操作誤差

樣品觀察系統

·高分辨率彩色CCD觀察系統，標準光學放大倍數為30倍

·可選50倍和100倍觀察系統

結果輸出

·測量數據報告可直接打印或一鍵導出到PDF文件、Excel文件，為質量管理保留寶貴的原始資料

·測量數據報告可包含測量數據、測量樣品圖像、各種統計分析圖表、自定義的報告模板（系統預置模板、含用戶信息的自制模板）

計算機系統配置

·IBM計算機

·佳能彩色噴墨打印機

分析應用軟件

·操作系統：Windows XP中文平臺

·分析軟件包：SmartLink FP軟件包

系統安全性

·Z軸保護傳感器

·安全防射線光閘

·樣品室門開閉傳感器

·X射線鎖

·X射線警示燈

·緊急停止按鈕

·前面板安全鈕和后面板安全鎖

·多用戶密碼保護，只向日常操作員設定有限的*，操作界面簡單，功能受限

·主管人員可進行系統維護

·系統自動生成操作員的使用記錄

·開啟“自動鎖定”功能可以防止未*人員使用；測量結束后，超過預設的時*，軟件鎖定并要求輸入密碼

測量自動化功能

鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”

多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、重復測量模式

測量位置預覽功能

激光對焦和自動對焦功能

統計計算功能

平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖

任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書

數據分組、X-bar/R圖表、直方圖

數據庫存儲功能

測量精度

膜厚范圍	*層（zui上層）	第二層	第三層
小于0.5 µm （20 µin）	+ 1 µin 或更好	+ 2 µin 或更好	+ 3 µin 或更好
大于0.5 µm	+ 5% 或更好	+ 10% 或更好	+ 15% 或更好