美國博曼BA-100 Optics毛細管光學X射線熒光分析儀 金鈀鎳測厚儀 返回列表頁

美國博曼BA-100 Optics毛細管光學X射線熒光分析儀 金鈀鎳測厚儀延續CMI的腳步，發明出*的BA-100 OpticsX射線熒光鍍層分析儀，BA-100 Optics毛細管光學X射線熒光分析儀 金鈀鎳測厚儀擁有毛細管光學聚焦機構，可配置15um與80um光學準直器，是目前業內可測zui小樣品的鍍層測厚儀。光學聚焦準直器搭載于博曼毛細管機構，可獲得更快的預熱時間、更長的射線管壽命。配備大面積的硅漂移探測器，有效拓展元素分析范圍，在滿足小光斑測量的同時提高立準確度和精確度。采用多毛細管聚焦機構，在同樣的聚焦平面，可以輕松獲取比傳統準直器機構增強數百倍的信號強度。

美國博曼BA-100 Optics毛細管光學X射線熒光分析儀 金鈀鎳測厚儀配置如下：

1：穩定的X射線管：

微聚焦50W（50KV 1MA）微聚焦鉬靶射線管（其它靶材光管也可選）

射線出射點預置于射線管Be窗正*

長壽命的射線管燈絲

*的預熱和ISO溫度適應程序

2：多毛細管聚焦光學機構：

顯著提高X射線信號強度，信號強度是準直器機型的數十倍及至數百倍；

小于100um直徑的測量斑點；

配備大窗口SDD探測器；

ENIG， SNPIG的更*測試工具；

可直接測量化學鎳鍍層中%P比例；

經驗驗證，接近*的測量精度。

鼎析天成為美國博曼BA-100 Optics毛細管光學X射線熒光分析儀 金鈀鎳測厚儀華南區*總代理