牛津儀器將與哈佛大學納米中心(CNS)于8月21-22日舉辦原子力顯微鏡納米機械性能與納米電學性能表征研討會

     研討會*天，將會由材料以及生物領域的原子力顯微鏡專家交流他們的研究成果。邀請報告的專家包括： Kathy Aidala, Mount Holyoke; Tom Arruda, Salve Regina University; Bryan Huey, Univ. of Connecticut;  Cristian Staii, Tufts University; Matt Whitfield, MIT; and Dalia Yablon, SurfChar LLC。此外牛津儀器Asylum Research將會在環境控制原子力顯微鏡-Cypher ES上展示各種新技術與新掃描模式。 研討會第二天將會現場展示并進行納米機械與納米電學表征的新技術（包括掃描微波阻抗顯微鏡(sMIM)）的培訓。

   無論是AFM的初學者還是富有經驗的AFM專家，這次的研討會都將是您的理想之選。研討會*天對所有人是免費開放的。第二天參加小組培訓的人則需支付25美元的費用。

   牛津儀器將繼續以支持中國科學研究發展為己任，為中國廣大科研人員提供高性能、高可靠性的原子力顯微鏡。同時牛津儀器的服務團隊還將為用戶提供一系列的服務套餐，包括配件和耗材、延保合同、產品培訓、服務維修和等。