IC智能磁卡相關(guān)檢測項(xiàng)目介紹

磁卡，磁記錄介質(zhì)卡片，由高強(qiáng)度、耐高溫的塑料或紙質(zhì)涂覆塑料制成,能防潮、耐磨且有一定的柔韌性，攜帶方便、使用較為穩(wěn)定可靠，因而廣泛用于國民生活的各個(gè)方面：銀行、證券、交通、飲食……磁卡對(duì)人民生活日益加大的影響迫使國際上對(duì)磁卡生產(chǎn)企業(yè)制定了愈加嚴(yán)格的工藝標(biāo)準(zhǔn)。另外，除了遵循基本生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)，提高磁卡使用舒適度和方便性也成了眾多生產(chǎn)企業(yè)突出重圍，贏得消費(fèi)者青睞的關(guān)注重點(diǎn)。Labthink蘭光根據(jù)磁卡國際標(biāo)準(zhǔn)ISO 7810并結(jié)合多年研究和生產(chǎn)檢測儀器的經(jīng)驗(yàn)，針對(duì)磁卡質(zhì)量檢測技術(shù)推出一些檢測方案。

1、磁卡厚度檢測

據(jù)磁卡國際標(biāo)準(zhǔn)ISO 7810對(duì)磁卡物理性能的規(guī)定，磁卡的厚度應(yīng)為 0.76±0.08mm。因此，磁卡的厚度檢測是對(duì)磁卡厚度進(jìn)行檢測控制一方面遵循國際標(biāo)準(zhǔn)，另一方面可以節(jié)約原料投入，增加產(chǎn)值。以Labthink蘭光C640測厚儀為例，該款測厚儀采用機(jī)械面接觸式測量原理，分辨率高達(dá)0.1微米。另外儀器的操作非常簡單，由于附帶了自動(dòng)進(jìn)樣功能，只需試驗(yàn)前設(shè)置測量點(diǎn)數(shù)、進(jìn)樣步距、測試時(shí)間等參數(shù)，點(diǎn)擊試驗(yàn)開始即可自動(dòng)進(jìn)樣測量。Labthink在不斷的創(chuàng)新研發(fā)和技術(shù)積累中推陳出新，使用超高精度的位移傳感器、科學(xué)的結(jié)構(gòu)布局及專業(yè)的控制技術(shù)，實(shí)現(xiàn)先進(jìn)的測試穩(wěn)定性、重復(fù)性及精度。

2、磁卡覆膜剝離性檢測

在磁卡使用中，由于磁卡會(huì)受到多種外界因素的作用導(dǎo)致表面覆膜與基材分離。雖然不影響磁卡的使用，但會(huì)破壞消費(fèi)者的觸感，降低使用感受。為了延長覆膜與基材的緊密結(jié)合狀態(tài)，延緩分離時(shí)間，在生產(chǎn)過程中，需要對(duì)磁卡樣品進(jìn)行抽樣檢測，事先測試覆膜與基材的剝離強(qiáng)度，即覆膜在多大的作用力下會(huì)與基材分離，從而改進(jìn)覆膜工藝。Labthink蘭光BLD-200N電子剝離試驗(yàn)機(jī)可根據(jù)客戶的檢測需求選擇 30N/50N/100N/200N四種不同負(fù)荷范圍的儀器，精度為1級(jí)，最小可檢測拉力為0.06N。該儀器采用微電腦進(jìn)行控制，具備剝離和拉伸兩大功能。具體檢測方法十分簡單：首先對(duì)磁卡按要求取樣并剝離部分覆膜和基材，將兩者牢牢固定在夾具上。其次，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定或?qū)嶒?yàn)要求設(shè)置測試參數(shù)。最后點(diǎn)擊開始按鈕開始實(shí)驗(yàn)。整個(gè)試驗(yàn)過程由系統(tǒng)控制自動(dòng)完成，通過內(nèi)置微型打印機(jī)打印試驗(yàn)結(jié)果。

以上幾項(xiàng)磁卡的檢測指標(biāo)在實(shí)際生產(chǎn)中，對(duì)調(diào)整生產(chǎn)工藝，提高產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要。通過相應(yīng)的試驗(yàn)儀器，來控制與掌握比較合理的各種技術(shù)參數(shù)，可良好的用于磁卡及相關(guān)材料的生產(chǎn)，控制質(zhì)量節(jié)約成本。Labthink蘭光，致力于通過包裝檢測技術(shù)提升和檢測儀器研發(fā)幫助客戶應(yīng)對(duì)包裝難題，助力包裝相關(guān)產(chǎn)業(yè)的品質(zhì)安全。了解關(guān)于更多相關(guān)信息，您可以登陸濟(jì)南蘭光公司網(wǎng)站查看具體信息或致電咨詢。Labthink蘭光期待與行業(yè)中的企事業(yè)單位增進(jìn)技術(shù)交流與合作。