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IC卡動態彎曲雙向扭試驗機用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡等卡的彎曲和扭曲性能測試。模擬IC卡（如銀行卡、交通卡）在?反復彎折?場景下的耐久性，檢測芯片、卡基材料及焊點的疲勞壽命。
IC卡動態彎曲雙向扭試驗機技術參數：
測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期：1~9999次
扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°，總扭曲角度30°
長邊最大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊最小位移量為2mm±0.50mm，
短邊最大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊最小位移量為1mm±0.50mm，
夾具安裝尺寸按照國家標準執行。
長邊彎曲工位數：5工位
短邊彎曲工位數：5工位
雙向扭轉工位數：5工位
外形尺寸：L670 X W380 X H220
儀器重量：70kg
電 壓：AC220V±5%
功 率：35W
儀器加罩前的尺寸是：
長：74.5cm，寬：38cm 高：30cm
自主設計按標準執行雙向扭轉測試。
IC卡動態彎曲雙向扭試驗機使用方法
(1) 儀器接通電源,將計數器,數值調到三個“0",放上標準卡.
(2) 按扭曲啟動按扭(此時只有點功能),看搖擺指針是否在±15°之間作往復運
動.
(3) 按下彎曲啟動按扭,使彎曲卡位處于距離 遠,看指針分別在某一刻度,
或者用卡尺測量臺面到卡的高度,然后再按下彎曲啟動按扭,使得彎曲卡
位處于距離最近,看指針分別在另一刻度,或者用卡尺測量臺面到卡頂
端高度,兩高度之差分別是10mm和20mm.
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