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智能卡動態彎扭測試儀產品用途：用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。
全新升級版卡片彎曲扭曲測試儀由衡翼儀器研制*，該測試儀工位為15工位，其中5工位為長邊彎曲，5工位為短邊彎曲，5工位為扭曲試驗。將計數次數增加到9999次，計數方法采用非接處光電計數(傳統采用開關量計數)，將故障率幾乎降為0,彎曲量和扭轉角度任意可調。
本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標準。
HY(IC)IC卡動態彎扭試驗機參數規格
測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期：1~9999次
扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°，總扭曲角度30°
長邊*位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊*小位移量為2mm±0.50mm，
短邊*位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊*小位移量為1mm±0.50mm，
夾具安裝尺寸*按照*標準執行。
外形尺寸：L670 X W380 X H220
儀器重量：70kg
電 壓：AC220V±5%
功 率：35W
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