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Leica DM8000M/12000M智能材料金相顯微鏡

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深圳市新則興科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

徠卡DM8000 M/12000 M提供了全新的光學(xué)設(shè)計(jì)，如理想的宏觀檢查模式或者傾斜紫外光 (OUV, 隨檢UV選擇) 不但提高了分辨能力，同時(shí)也增加了觀察8/200毫米直徑大樣品時(shí)的產(chǎn)量。只要一指按鍵，您就可以切換放大倍率，照明模式或相襯模式。該機(jī)照明基于的 LED 科技，一體化整合在顯微鏡機(jī)身上。低熱輻射效應(yīng)和一體化內(nèi)置技術(shù)確保了顯微鏡四周空間具有理想化的空氣環(huán)流。LED的超長使用壽命和......

詳細(xì)介紹

從宏觀到微觀 — 讓缺陷無處遁形

大4倍的視野
- 為了檢測宏觀缺陷，Leica DM8000 M 和 DM12000 M 帶有可以快速掃描大樣品的微觀/宏觀模式。宏觀放大功能可以攝取約 40 mm 的視野 ― 幾乎比傳統(tǒng)掃描物鏡大 4 倍。在極短的時(shí)間里就可以對整個(gè)掃描區(qū)域進(jìn)行精確的缺陷掃描。
通過按鍵改變您的觀察
- 如果您想更近距離地觀察，只需按下一個(gè)鍵，從宏觀模式切換到微觀模式而且可以選擇暗場、明場或微分干涉相襯觀察缺陷。按下另一個(gè)鍵可以切換至分辨率更高的 UV 模式或帶來全新視覺體驗(yàn)的 OUV 模式。節(jié)省寶貴的時(shí)間。
新的相襯技術(shù)帶來超高分辨率
- 斜射照明是觀察邊角或芯片的工具，而紫外線對于獲得更高分辨率是非常有用的。的 OUV 模式組合了這兩種技術(shù)。從各個(gè)側(cè)面、用 3D 和分辨率觀察樣品。
深度暗場相襯
- 深度暗場相襯顯示了比傳統(tǒng)光學(xué)技術(shù)多得多的樣品細(xì)節(jié)。而且較大的工作距離還可以保護(hù)樣品在檢驗(yàn)過程中不會由于大意而受到損壞。

針對嚴(yán)苛的生產(chǎn)環(huán)境

保持使用環(huán)境的清潔
- Leica DM8000 M/DM12000 M 內(nèi)置有 LED 照明。您會注意到這種巧妙設(shè)計(jì)對您的工作環(huán)境的影響:沒有了礙事的燈罩，顯微鏡周圍的氣流更為合理。潔凈間的清潔解決方案。
- 高亮度 LED 的使用壽命極長，而耗電量卻極低。無需更換燈泡，也不用為了進(jìn)行維護(hù)而關(guān)機(jī)。有助于環(huán)保，同時(shí)節(jié)約成本，還可以提高生產(chǎn)率。
連續(xù)操作
- 電動物鏡轉(zhuǎn)換盤帶有保護(hù)罩，和整個(gè)系統(tǒng)一樣也是針對最嚴(yán) 苛的潔凈間要求設(shè)計(jì)的。這種解決方案可以讓顯微鏡在嚴(yán)苛的條件下長期使用。
樣品的有效保護(hù)
- 聚焦停止功能采用機(jī)械和電子方式協(xié)同工作，保護(hù)樣品不會受到意外損壞。更大的聚焦縱向調(diào)節(jié)范圍和可以單獨(dú)延伸的工作距離可以適應(yīng)不同的樣品高度，從微電子零部件到拋光的金屬切片、復(fù)合材料或礦物。
系統(tǒng)集成意味著一體化的供應(yīng)
- 有了 Leica DM8000 M/DM12000 M，您就擁有了一套完整的系統(tǒng):搭配的顯微鏡、攝像頭和 Leica Application Suite (LAS) 軟件。
- 還可以選擇晶片裝入設(shè)備，真空晶片夾等匹配附件和安裝 INSPEC IS 檢驗(yàn)軟件或 INSPEC TF 薄膜厚度測量軟件，把 Leica DM8000 M/DM12000 M 升級成為一個(gè)檢驗(yàn)系統(tǒng)。

的人體工學(xué)與便捷性

人體工學(xué)意味著更高的質(zhì)量
- 事實(shí)已經(jīng)證明按照人體工學(xué)設(shè)計(jì)的工作場所有助于提高生產(chǎn)率和工作質(zhì)量。可以單獨(dú)調(diào)節(jié)的人工學(xué)鏡筒和高度可調(diào)的聚焦按鈕能夠滿足不同用戶的要求，Leica DM8000 M/DM12000 M 非常適于日常檢驗(yàn)和其它用途。
- 所有控制裝置都易于操作，用戶的雙眼和雙手無需離開顯微鏡就可以切換至不同的相襯技術(shù)或照明。攝像頭的快門釋放鍵也集成在顯微鏡支架上。方便用戶，節(jié)約時(shí)間。
幫助防止用戶犯錯(cuò)
- 即使是毫無顯微鏡使用經(jīng)驗(yàn)的用戶也可以很容易地使用 Leica DM8000 M/DM12000 M。控制裝置通過記憶功能被預(yù)先分配好，從而減少了操作出錯(cuò)的風(fēng)險(xiǎn)。
智能支持
- 利用內(nèi)置的相襯管理系統(tǒng)，按下按鈕即可選擇相襯 ― 相應(yīng)地調(diào)整相關(guān)參數(shù)。內(nèi)置的照明管理系統(tǒng)可以根據(jù)所選物鏡自動調(diào)節(jié)照明。超簡單的操作有助于避免錯(cuò)誤和節(jié)省時(shí)間。
- 為了檢驗(yàn)空白晶片等強(qiáng)反射表面，還有一個(gè)焦點(diǎn)探測器的智能功能，可以快速對焦感興趣的細(xì)節(jié)。
- 在技能水平不同的多個(gè)用戶使用同一臺顯微鏡時(shí)，不同的用戶可以輕松而明確地確定各自的檢驗(yàn)任務(wù)。

產(chǎn)品參數(shù)
參數(shù)/型號	Leica DM 12000M
光學(xué)系統(tǒng)	Leica HC光學(xué)器件(光學(xué)系統(tǒng)校正至無限遠(yuǎn))
觀察鏡筒	三目人工學(xué)鏡筒，直立和同向圖像
觀察鏡筒	切換位置(目鏡/攝像頭): 100/0 和0/100，100/0 和50/50
宏觀成像	超廣視野概覽圖像，樣品上掃描區(qū)域40 mm
照明系統(tǒng)	全LED入射光照明;觀察技術(shù)：亮場、暗場、微分干涉相襯、定性偏振、斜射照明、紫外線、斜射紫外線全LED透射光照明;觀察技術(shù):亮場、定性偏振
狀態(tài)反饋	正面的狀態(tài)指示器
狀態(tài)反饋	工作間隔指示器(儀器背面)
操作支持	內(nèi)置相襯管理器及科勒照明管理系統(tǒng)
顯微鏡載物臺	手動檢驗(yàn)載物臺12 x 12；302 x 302 mm移動范圍，內(nèi)置快速調(diào)節(jié)
顯微鏡載物臺	掃描載物臺12x 12；302 x 302 mm移動范圍，電動，4 mm高度
控制單元	操縱桿，帶4個(gè)可自由編程的功能鍵
	Leica SmartMove，x、y、z控制，帶4個(gè)可自由編程的功能鍵
	Leica STP6000 SmartTouch, x、y、z控制，帶4個(gè)可自由編程的功能鍵
物鏡轉(zhuǎn)換盤	電動、亮場/暗場物鏡 (M32)、6 位置
聚焦	耐用型手動2級聚焦，粗調(diào)和微調(diào)模式; 35 mm移動范圍;高度可調(diào)式聚焦手柄
	精準(zhǔn)3級聚焦，粗調(diào)、微調(diào)和超微調(diào)模式; 35 mm調(diào)節(jié)范圍;高度可調(diào)式聚焦手柄
	電動2級聚焦； 35 mm移動范圍；強(qiáng)重復(fù)能力；齊焦補(bǔ)償
電氣系統(tǒng)	供電電壓：100120/220- -240 V AC (%)，50/60 Hz
重量	約52kg(其中顯微鏡約36.5kg)
應(yīng)用	圓晶、電子元器件、金屬、陶瓷、高分子材料、粉塵顆粒