霍爾效應測試儀的優勢
霍爾效應測試儀主要由恒定電流源,范德堡定律終端轉換器,低溫(77K)測量系統和磁場強度輸入系統組成。它具有用于研究半導體材料的霍爾效應的所有組件和配置。它是一套非常成熟的儀器系統。
霍爾效應測試儀主要用于測量重要參數,例如載流子濃度,遷移率,電阻率和半導體材料的霍爾系數。必須事先控制這些參數,以了解半導體材料的電特性。因此,霍爾效應測試儀是可以理解的,并且是研究半導體器件和半導體材料的電性能的工具。可測試材料:半導體材料:SiGe,SiC,InAs,InGaAs,InP,AlGaAs,和鐵氧體材料等;低阻抗材料:石墨烯,金屬,透明氧化物,弱磁半導體材料,TMR材料等;高阻抗材料:半絕緣GaAs,GaN,CdTe等。
1.可靠的準確性和可重復性。恒流源采用六電平電流范圍設置,以地減少可接收的誤差; Van der Pauw的規則轉換使用非接觸式設備來有效降低儀器噪聲。軟件和硬件經過專門設計,以確保每個實驗數據都是多次。測試的平均值使儀器具有很好的數據可重復性。
2.產品小型化,操作簡單。小型磁場強度輸入系統使用永磁體和液氮低溫測量系統(77K),以確保儀器操作非常簡單; 兩種不同尺寸的傳統樣品板(20 * 20mm,6 * 6mm)可制成不同尺寸和不同材料的薄膜。樣品更易于測量。
3.各種實驗結果。霍爾效應測試儀實驗結果由軟件自動計算,可以同時獲得載流子濃度,表面載流子濃度,遷移率,電阻率,霍爾系數等。