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    蘇州斯開爾測試設(shè)備有限公司


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    TFT300A大功率LED熱阻測試系統(tǒng)

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    參  考  價(jià)面議
    具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

    產(chǎn)品型號

    品       牌

    廠商性質(zhì)其他

    所  在  地蘇州市

    聯(lián)系方式:周先生 查看聯(lián)系方式

    更新時(shí)間:2024-07-01 07:32:22瀏覽次數(shù):48次

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    經(jīng)營模式:其他

    商鋪產(chǎn)品:142條

    所在地區(qū):江蘇蘇州市

    聯(lián)系人:周先生

    產(chǎn)品簡介

    一、系統(tǒng)描述TFT300A大功率LED熱阻測試系統(tǒng)塬理符合MIL-STD-750和JEDECJESD51-1熱阻測試標(biāo)準(zhǔn)定義的動(dòng)態(tài)及靜態(tài)測試方法)運(yùn)用實(shí)時(shí)采樣靜態(tài)測試方法(StaticMethod)

    詳細(xì)介紹

    一、系統(tǒng)描述

    TFT300A大功率LED熱阻測試系統(tǒng)塬理符合 MIL-STD-750JEDEC JESD51-1熱阻測試標(biāo)準(zhǔn) 定義的動(dòng)態(tài)及靜態(tài)測試方法)運(yùn)用實(shí)時(shí)采樣靜態(tài)測試方法(Static Method),廣泛用于測試各類 IC(包括二極管、三極管、MOSFETIGBTSOCSIPMEMS 等)、大功率LED、導(dǎo)熱材料、散熱器、熱管等的熱阻、熱容及導(dǎo)熱系數(shù)、積分及微分熱結(jié)構(gòu)函數(shù)曲線、接觸熱阻等熱特性。

    二、測試功能介紹

    1、IC:可以得到用不同占空比方波測試時(shí)的阻抗與熱阻值;

    2、二極管:穩(wěn)態(tài)熱阻(Thermal Resistance)

    3、三極管:包括:Rja,Rjb,Rjc,Rjl,   當(dāng)器件在給一定的工作電流后。熱量不斷向外擴(kuò)散,達(dá)到了熱平衡,得到的結(jié)果是穩(wěn)態(tài)熱阻值。在沒有達(dá)到熱平衡之前測試到的是熱阻抗;

    4、MOSFET:從開始加熱到結(jié)溫達(dá)到穩(wěn)定這一過程中的瞬態(tài)阻抗數(shù)據(jù);

    5、IGBT:瞬態(tài)阻抗(Thermal Impedance)

    6、線形調(diào)壓器:裝片質(zhì)量的分析;

    7、大功率LED:熱阻、參考熱阻、結(jié)溫、光功率、光譜、顏色、正向電壓、正向電流 升溫曲線、降溫曲線、K系數(shù)、I-V特性曲線、結(jié)壓-時(shí)間、結(jié)溫-時(shí)間曲線、瞬態(tài)熱阻曲線、積分及微分熱結(jié)構(gòu)函數(shù)曲線、精確解析LED的分層熱阻結(jié)構(gòu)。

     

    三、系統(tǒng)配置介紹

    1、采樣單元

    l  功率:2A/10V

    l  測試延遲時(shí)間(啟動(dòng)時(shí)間):1us

    l  采樣率:1us

    l  測試通道數(shù):2 8個(gè));

    l  熱電偶測量精度(T型):典型±0.1℃,大±0.3℃

    l  結(jié)溫測量精度:典型±0.1℃

    2、電學(xué)單元

    l  加熱電壓測量精度:±0.1%

    l  加熱電流測量精度:±0.2%

    l  結(jié)溫測量精度:典型±0.1℃

    l  器件的大供電電壓:50V

    l  器件的大供電電流:2V

    3、光學(xué)單元

    l  光譜波長范圍:380nm780nm

    l  光功率范圍:0.05mW-1000.0mW

    l  熱阻可測量范圍:0/W250/W

    l  溫度控制裝置范圍:5℃90℃,穩(wěn)定度±0.2℃

     

    四、測試塬理

    根據(jù)IEDEC靜態(tài)測量塬理,改變器件輸入功率,使器件溫度發(fā)生變化,在達(dá)到熱平衡之前,TFT300A1uS的高速采樣率實(shí)時(shí)記錄溫度隨著時(shí)間變化的瞬態(tài)響應(yīng)曲線;在得到溫度響應(yīng)后,根據(jù)R_thiA=T / P 計(jì)算穩(wěn)態(tài)熱阻;將上述瞬態(tài)響應(yīng)轉(zhuǎn)換為結(jié)構(gòu)函數(shù)形式,方便用戶分析器件熱流傳導(dǎo)路徑上的各層結(jié)構(gòu)。系統(tǒng)未采用“脈沖方法"。因?yàn)椤懊}沖方法"采用延時(shí)測量技術(shù),限制了測量精度,且“脈沖方法"在測量瞬態(tài)溫度響應(yīng)市應(yīng)非實(shí)時(shí)記錄數(shù)據(jù)。而是通過人為構(gòu)建脈沖加熱功率來模擬瞬態(tài)過程,測試結(jié)果的精確性無法保證。

     

    五、參考測試標(biāo)準(zhǔn)

    EIA/JESD 51-1~14 Integrated Circuits Thermal Measurement Method

    MIL-STD-750D Test Method for semiconductor Device

    SJ 20788-2000 半導(dǎo)體二極管熱阻測試方法

    GB/T 4023-1997 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電流第二部分:整流二極管

    QB/T 4057-2010 普通照明用發(fā)光二極管性能要求  
       

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