5當前位置：>>深圳市中圖儀器股份有限公司>>視頻展示>>光學3D表面輪廓儀>>白光干涉儀測FA光纖端面粗糙度Sz參數
針對光通信行業中光波導器件的光纖端面粗糙度的檢測需求，SuperView系列白光干涉儀基于白光干涉原理和納米掃描系統，具備0.1nm的縱向分辨率和全透明表面干涉條紋成像的能力，能夠輕松實現針對FA光纖端面粗糙度Sz參數的高精度、高重復性的一鍵式測量。
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針對光通信行業中光波導器件的光纖端面粗糙度的檢測需求，SuperView系列白光干涉儀基于白光干涉原理和納米掃描系統，具備0.1nm的縱向分辨率和全透明表面干涉條紋成像的能力，能夠輕松實現針對FA光纖端面粗糙度Sz參數的高精度、高重復性的一鍵式測量。
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