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HAST高壓加速老化試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的密封性和老化性能。
HAST高壓加速老化試驗箱產品用途：
HAST/HALT試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的密封性和老化性能。
◆內膽采用雙層圓弧設計,可以防止試驗結露滴水現象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。
◆采用高效真空泵，使箱內達到純凈飽和蒸汽狀態。
◆采用7寸真彩式觸摸屏，擁有250組12500段程序，具有USB曲線數據下載功能，RS-485通訊接口。
◆汽車級硅膠整體密封條，氣密性好，耐用。
◆全自動補水功能,前置式水位確認。
◆采用干濕球傳感器直接測量(控制模式分為：干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式)。
HAST高壓加速老化試驗箱簡介：
HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗機,是用于調查分析何時出現電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設備，其目的是提高環境應力與工作應力、加快試驗過程縮短產品或系統的壽命試驗時間。廣泛用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業。
威邦高壓加速老化試驗箱采用優化設計，美觀大方、做工精細，對應 IEC60068-2-66 條件，具有直接測量箱內溫濕度的干、濕球溫度傳感器；具有緩降壓、排氣、排水功能，控制避免試驗結束后壓力溫
度的急變，保證試驗結果的正確。
型號 | WBE-HAST-35 | WBE-HAST-40 | ||
尺寸參數單位cm | 內箱尺寸 | 直徑Φ | 35 | 40 |
深D | 45 | 45 | ||
外箱尺寸 | 寬W | 73 | 75 | |
高H | 163 | 155 | ||
深D | 110 | 130 | ||
性能 參數 | 溫度范圍（飽和/非飽和） | 105~151.4℃（99%R.H）；105.0~133.3℃（99%R.H） | ||
110.0~157.5℃（85%R.H）；110.0~140.0℃（85%R.H） | ||||
118.0~162.5℃（65%R.H）；118.0~150.0℃（65%R.H） | ||||
濕度范圍 | 65%~99%R.H | |||
壓力范圍（飽和/非飽和） | 0.019~0.393Mpa | |||
0.019~0.208Mpa | ||||
溫度波動度 | ±0.5℃ | |||
溫度均勻度 | ±0.5℃ | |||
濕度波動度 | ±2.0%R.H | |||
濕度偏差 | ±5.0%R.H | |||
壓力偏差 | ≤±2Kpa | |||
升溫速率 | +25℃~135℃,全程平均約45min(空載，不發熱) | |||
升壓時間 | 0→0.196Mpa約20min | |||
溫度、濕度、壓力范圍 | ||||
箱體材質 | 外箱材料 | 優質防腐電解板，表面靜電粉體烤漆 | ||
內箱材料 | SUS316不銹鋼板；內膽整體全滿焊焊接而成 | |||
保溫層 | 超細玻璃保溫層，阻燃等級A1 | |||
燥音 | ≤60分貝（dB）(噪音檢測裝置距離設備大門1m處測量) | |||
控制器 | 7寸彩色觸摸屏智能模糊控制器，搭載壓力溫濕度版操作系統 | |||
使用條件 | 1.+5℃~+35℃ 2.相對濕度：不大于85%R.H 3.大氣壓力：80kpa~106 kpa 4 .平坦無振動的地面 | |||
保護裝置 | a. 加熱器空焚防止保護開關 b. 加熱器過電流斷路器 c. 循環風扇過電流超載保護 d. 壓縮機高壓保護開關 e. 壓縮機過熱保護開關 f. 壓縮機過電流保護開關 g. 過電壓欠逆相保護開關 h. 線路斷路器 i. 漏電開關 j. 過零點閘流體功率控制器 k. 缺水保護 | |||
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