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閱讀：24發(fā)布時(shí)間：2025-4-4
恒溫恒濕試驗(yàn)箱用于電子電器元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件、汽車零部件、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷磁性和高分子材料的物理變化；測(cè)試其材料承受高低溫的性能及產(chǎn)品在熱脹冷縮中的化學(xué)變化或物理損傷，確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量；從精密IC到重型機(jī)械元件，也是各領(lǐng)域產(chǎn)品測(cè)試的試驗(yàn)箱。
為保證整批電子元器件的可靠性，滿足整機(jī)的要求，我們需要排除在一些特定的使用條件下可能出現(xiàn)初始故障的元器件。
（一）高溫儲(chǔ)存
電子元器件的失效大多是由于機(jī)體和表面的各種物理化學(xué)變化引起的，這些變化與溫度密切相關(guān)。溫度升高后，化學(xué)反應(yīng)速度大大加快，加速失效過程；使有缺陷的元件能及時(shí)暴露出來，加以淘汰。
高溫篩分廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件中，可有效消除表面污染、鍵合不良和氧化層缺陷等失效機(jī)理。一般在結(jié)溫下儲(chǔ)存24~168小時(shí)。高溫儲(chǔ)存后，可以穩(wěn)定元器件的參數(shù)性能，減少使用中的參數(shù)漂移。
（二）電力測(cè)試
篩選中，在熱電應(yīng)力的綜合作用下，可以很好地暴露出元器件本體和表面的許多潛在缺陷，這是可靠性篩選的重要項(xiàng)目。各種電子元器件通常在額定功率條件下精煉幾小時(shí)到168小時(shí)。有些產(chǎn)品，如集成電路，不能隨便改變條件，而是可以采用高溫工作方式來提高工作結(jié)溫，達(dá)到高應(yīng)力狀態(tài)。
（三）溫度循環(huán)
電子產(chǎn)品在使用過程中會(huì)遇到不同的環(huán)境溫度條件。在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下，熱匹配性能差的元件很容易失效。溫度循環(huán)篩選利用高溫和低溫之間的熱脹冷縮應(yīng)力，可有效剔除具有熱性能缺陷的產(chǎn)品。常用的元器件篩選條件為-55~125℃，5~10個(gè)循環(huán)。
電力精煉需要專門的測(cè)試設(shè)備，成本高，篩選時(shí)間不宜過長(zhǎng)。民用產(chǎn)品通常是幾個(gè)小時(shí)，高可靠性產(chǎn)品可以選擇100168小時(shí)，航空級(jí)部件可以選擇240小時(shí)或更長(zhǎng)的周期。
（四）篩選元件的必要性
在產(chǎn)品的制造過程中，由于人為因素或原材料、工藝條件、設(shè)備條件的波動(dòng)，最終的成品并不能全部達(dá)到預(yù)期的固有可靠性。在每批成品中，總有一些產(chǎn)品存在一些潛在的缺陷和弱點(diǎn)，其特點(diǎn)是在一定的應(yīng)力條件下早期失效；早期失效部件的平均壽命比正常產(chǎn)品短得多。
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