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CSK-IA超聲波探傷儀標(biāo)準(zhǔn)試塊

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更新時間：2022-03-29 14:40:23瀏覽次數(shù)：125次

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濟(jì)寧恒碩檢測儀器有限公司

經(jīng)營模式：代理商

商鋪產(chǎn)品：200條

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地	國產(chǎn)	加工定制	否

CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的
主要用途有:
1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;
2利用50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;
4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;
5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;
7利

詳細(xì)介紹

CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的

主要用途有:

1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;

2利用50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;

3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;

4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;

5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;

6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;

7利用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。