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XDL210熒光測厚儀

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更新時間：2025-06-18 10:26:37瀏覽次數：296次

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產品簡介

XDL210熒光測厚儀主要用于貴金屬加工和首飾加工行業、銀行、首飾銷售和第三方檢測機構以及電鍍行業無損檢測鐵鍍鋅、鐵鍍鉻、銅鍍鋅、銅鍍鎳、銅鍍金等各類金屬鍍層厚度測試

詳細介紹

XDL210熒光測厚儀主要用于貴金屬加工和首飾加工行業、銀行、首飾銷售和第三方檢測機構以及電鍍行業無損檢測鐵鍍鋅、鐵鍍鉻、銅鍍鋅、銅鍍鎳、銅鍍金等各類金屬鍍層厚度測試。對RoHS環境有害物質的測試，鹵素含量的檢測分析，黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量,電鍍液和鍍層含量的測定。
技術參數
元素分析范圍:從硫(S)到鈾(U);·一次可同時分析3層以上鍍層;鍍層厚度分析檢出限可達0.01um;
分析厚度一般為0.1um到50um之間（視材料而不同);
多次測量重復性可達0.1um(對于小于1um的最外層鍍層);長期工作穩定性為0.lum(對于小于1um的最外層鍍層);配置小孔準直器，測試光斑在0.1mm以內;
探測器能量分辨率為145土5eV;
應用于金屬電鍍層厚度的測量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu、Ni/Cu/Fe、Au/Ni/Cu等;

關鍵詞：測厚儀