在測(cè)量過(guò)程中，由于諸多因素會(huì)造成其結(jié)果的誤差。有些誤差是外帶入的，有的則是儀器本身造成的。今天，我們主要對(duì)鍍層測(cè)厚儀器展開分析，了解一下鍍層測(cè)厚儀器可能出現(xiàn)的測(cè)量誤差的原因。

　　測(cè)量對(duì)象引入的測(cè)量誤差主要包括以下幾方面：

　　1、覆蓋層厚度的影響

　　2、基體金屬磁性的影響

　　3、基體金屬厚度的影響

　　4、材料的邊緣效應(yīng)的影響

　　5、基體金屬機(jī)械加工方向的影響

　　6、基體金屬剩磁的影響

　　7、基體金屬曲率的影響

　　8、基體金屬表面粗糙度的影響

　　對(duì)上述因素產(chǎn)生的測(cè)量誤差分析如下：

　　1、對(duì)于較薄的覆蓋層，由于受儀器本身測(cè)量和覆蓋層表面粗糙度的影響，較難準(zhǔn)確測(cè)量覆蓋層厚度，尤其是當(dāng)覆蓋層厚度小于5μm的情況;對(duì)于較厚的覆蓋層，其測(cè)量結(jié)果相對(duì)誤差近似為一常數(shù)，誤差隨覆蓋層厚度增加而增大。

　　2、不同鐵磁性材料或同一鐵磁性材料采用不同的熱處理方式和冷加工工藝后，其磁特性均有較大差異，而材料的磁特性差異會(huì)直接影響對(duì)磁鐵或檢測(cè)線圈的磁作用，為減小或消除磁特性差異產(chǎn)生的影響，應(yīng)采用磁特性與試樣基體相同或相近的金屬材料做為基體對(duì)儀器校準(zhǔn)。

　　3、由于磁場(chǎng)在鐵磁性基體材料中的分布狀態(tài)在一定范圍內(nèi)與基體厚度密切相關(guān)，當(dāng)基體厚度達(dá)到某臨界厚度時(shí)，這種影響才能減小或忽略。若試樣基體厚度小于臨界厚度時(shí)，應(yīng)通過(guò)化學(xué)方法除去試樣的局部覆蓋層，利用試樣基體對(duì)儀器校準(zhǔn)。

　　4、儀器對(duì)試樣表面的不連續(xù)敏感，太靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處測(cè)量時(shí)，磁場(chǎng)將會(huì)發(fā)生變化，測(cè)量結(jié)果將不可靠。因此，不要在靠近不連續(xù)的部位如邊緣、孔洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。

　　5、金屬機(jī)械加工方向?qū)Σ牧系拇盘匦詴?huì)產(chǎn)生較大影響，當(dāng)使用雙極式測(cè)頭或被磨損而不平整的單極式測(cè)頭測(cè)量時(shí)，測(cè)量結(jié)果會(huì)受到磁性基體金屬機(jī)械加工(如軋制)方向的影響。因此，在試樣上測(cè)量時(shí)應(yīng)使測(cè)頭的方向與在校準(zhǔn)時(shí)該測(cè)頭所取方向一致。

　　6、金屬材料由于磨削等加工方式可能帶來(lái)剩磁，影響儀器測(cè)量，試樣測(cè)量前應(yīng)進(jìn)行消磁處理，并在互為180°的兩個(gè)方向上進(jìn)行測(cè)量。

　　7、基體金屬曲率的變化將影響測(cè)量結(jié)果，曲率半徑越小，對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響越大。當(dāng)測(cè)量曲率較小的試樣時(shí)，應(yīng)通過(guò)化學(xué)方法除去試樣的局部覆蓋層，利用試樣的無(wú)膜部分作為基體對(duì)儀器校準(zhǔn)。

　　8、基體金屬表面粗糙度將影響測(cè)量結(jié)果，粗糙度程度增加，對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響增大。應(yīng)對(duì)試樣基體多個(gè)位置進(jìn)行零點(diǎn)校正，并在試樣不同位置上進(jìn)行多次測(cè)量，測(cè)量次數(shù)至少應(yīng)增加到5次或以上，以減小影響。