西安馨萊歐電子科技有限公司
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芯片加熱：所有水分測量探頭，經過一段時間工作，由于工作環境的不良（如：油污、粉塵、腐蝕氣、酸堿氣體等），會對探頭造成傷害，引起探頭測量數據漂移產生偏差
芯片加熱：所有水分測量探頭，經過一段時間工作，由于工作環境的不良（如：油污、粉塵、腐蝕氣、酸堿氣體等），會對探頭造成傷害，引起探頭測量數據漂移產生偏差。解決的辦法就是對芯片進行高溫加熱。一般加熱在160℃以上，持續幾分鐘，用于蒸發芯片上的水分及油污，保證它的零位準確度。加熱階段，露點儀停止工作。經過幾分鐘冷卻，又可進入循環測量。理論上講溫度變化與露點溫度不存在關聯。溫度僅與相對濕度有關聯，所以探頭加熱不影響露點溫度測量。
公司經過長年研發和悉心鉆研世界低濕測量的核心技術，成功研發出了除維薩拉DMT242 露點變送器以外的真正國產化的芯片加熱核心技術，成功打破了維薩拉公司在這方面的技術壟斷，經過多家公司的試用后均反饋很好，并送國家嚴格測試符合國標。它的橫空出世將極大降低企業的采購成本，可以替代市場上-80℃以上的同類進口露點產品。
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