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德國(guó)EPK MiniTest1100 MiniTest2100涂層測(cè)厚儀涂鍍層測(cè)厚儀

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涂層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100 德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；所有型號(hào)均可配所有探頭；可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)

詳細(xì)介紹

涂層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號(hào)均可配所有探頭；
可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

MiniTest涂層測(cè)厚儀功能

型號(hào)1100210031004100MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))111099每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，并可設(shè)寬容度極限值)-11099可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)-1500500數(shù)據(jù)總量1100001000010000MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar-√√√讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk--√√組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar--√√組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk--√√存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)---√分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值--√√顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間-√√√其他功能透過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)-√√√在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)√√√√利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)√√√√補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset)--√√外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能-√√√保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置√√√√更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值√√√√設(shè)置極限值--√√公英制轉(zhuǎn)換√√√√連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過(guò)模擬柱識(shí)別最小值--√√連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)--√√浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送√√√√組內(nèi)單值延遲顯示-√√√連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值√√√√

MiniTest涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

探頭量程低端分辨率誤差曲率半徑(凸/凹)測(cè)量區(qū)域直徑基體厚度探頭尺寸磁感應(yīng)法 F050-500μm0.1μm±(1%±0.7μm)1/5mm3mm0.2mmφ15x62mmF1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mmF1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x8x170mmF30-3000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mmF100-10mm5μm±(1%±10μm)5/16mm20mm1mmφ25x46mmF200-20mm10μm±(1%±10μm)10/30mm40mm2mmφ40x66mmF500-50mm10μm±(3%±50μm)50/200mm300mm2mmφ45x70mm兩用FN1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mmN50μmφ15x62mmFN1.6P0-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面30mmF0.5mmN50μmφ21x89mmFN20-2000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mmN50μmφ15x62mm電渦流法 N020-200μm0.1μm±(1%±0.5μm)1/10mm2mm50μmφ16x70mmN.08Cr0-80μm0.1μm±(1%±1μm)2.5mm2mm100μmφ15x62mmN1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm2mm50μmφ15x62mmN1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x13x170mmN100-10mm10μm±(1%±25μm)25/100mm50mm50μmφ60x50mmN200-20mm10μm±(1%±50μm)25/100mm70mm50μmφ65x75mmN1000-100mm100μm±(1%±0.3mm)100mm/平面200mm50μmφ126x155mmCN0210-200μm0.2μm±(1%±1μm)平面7mm無(wú)限制φ17x80mm

注：F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

MiniTest涂層測(cè)厚儀探頭圖示

FN1.60～1600μm,φ5mm兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm)FN1.6P0～1600μm,φ30mm兩用測(cè)頭，特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度F050～500μm,φ3mm磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等量程低端分辨宰很高(0.1μm)