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表面缺陷分析儀|桔皮儀|輪廓形貌儀光澤度儀

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產(chǎn)品型號(hào)OPTIMAP PSD

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更新時(shí)間：2022-11-14 09:29:48瀏覽次數(shù)：328次

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北京海勤科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

OPTIMAP PSD可以進(jìn)行產(chǎn)品表面質(zhì)量測量、繪圖。展示表面形貌的3D形貌圖

詳細(xì)介紹

　　產(chǎn)品表面質(zhì)量測量、繪圖

　　表面形貌的3D形貌圖

　　PSD技術(shù)

　　便攜、使用方便

　　全新的OPTIMAPTM標(biāo)志著控制表面質(zhì)量的一場革命。主觀視覺評估一次可以轉(zhuǎn)化為可靠的、有代表性的測量。

　　對大多數(shù)消費(fèi)者而言，高質(zhì)量的產(chǎn)品要求有同樣高質(zhì)量的外觀，沒有缺陷和瑕疵。表面外觀目前主要通過目測主觀評估或者通過不能捕捉表面質(zhì)量全貌的儀器測量。

　　OPTIMAPTM提供了一個(gè)*的量化表面質(zhì)量的解決方案。

　　OPTIMAP通過簡單快速操作測量，可以給出被測產(chǎn)品表面形貌上詳細(xì)的難以置信的缺陷和紋理情況。獲取的形貌信息處理成目標(biāo)表面測量值，可以用來有效地控制產(chǎn)品質(zhì)量。

　　堅(jiān)固耐用的OPTIMAPTM適用于實(shí)驗(yàn)室，工廠或者現(xiàn)場檢查

　　柔軟的接觸測量口意味著儀器可以放心使用在質(zhì)量的表面

　　表面紋理和缺陷可以評估各種表面：半啞光表面到拋光鏡面，小工件和曲面

　　單次操作測量面積 (95 x 70mm)

　　屏幕上的3D圖形即時(shí)讀取表面形貌

　　客觀的測量可以顯示為可追溯的國際標(biāo)準(zhǔn)單位或者選定的工業(yè)級別

　　數(shù)據(jù)和結(jié)果與其他分析技術(shù)和第三方軟件*兼容

　　 Ondulo軟件可以生成復(fù)雜的紋理/缺陷分析和報(bào)告。

　　快速、可靠和便攜式測量

　　從集成的可充電電池或者直接電源供電, OPTIMAPTM可以安全地用于實(shí)驗(yàn)室，工廠或者遠(yuǎn)程現(xiàn)場檢查。

　　由于儀器的光學(xué)測量使用相位步進(jìn)偏折原理，儀器無需在表面上移動(dòng)。

　　由于不需要移動(dòng)測量，儀器嚴(yán)格確保了每次測量的可靠性和準(zhǔn)確性。

　　廣泛的表面測試及應(yīng)用

　　OPTIMAPTM可以廣泛的用于從超低光澤到鏡面光澤，不論面積大小，和帶有不同程度曲率的表面。

　　柔軟的橡膠測量口，確保放在質(zhì)量的表面的上也是安全的。

　　典型的表面分析

　　OPTIMAPTM客觀地測量和表征表面質(zhì)量的許多方面包括紋理、波紋度和局部缺陷（包括橘皮、夾雜物、凹坑和劃痕等）。

　　大測量面積（95mm x 70mm）提供了比那些表面輪廓儀或者其他光學(xué)掃描儀器更具有代表性的結(jié)果，而且可以以可追溯至國際標(biāo)準(zhǔn)單位（m-1）或其他特定工業(yè)單位來體現(xiàn)。

　　具有高橫向分辨率（＜75um）的OPTIMAPTM有能力捕獲人眼看不到的表面缺陷。

　　直觀的用戶界面

　　Optimap直觀的用戶界面提供了操作、設(shè)置和測量結(jié)果的顯示。帶圖標(biāo)的觸摸屏使用簡便，只需按下屏幕上相應(yīng)的功能區(qū)域即可。

　　測量結(jié)果顯示為3D形貌圖，圖表和數(shù)字格式。

　　高分辨率3D圖像可以通過交互式全屏縮放和平移進(jìn)行仔細(xì)檢查。

　　數(shù)字結(jié)果可以顯示為國際標(biāo)準(zhǔn)單位或者調(diào)整為工業(yè)規(guī)范。

　　Optimap的紋理值與使用相同濾波頻帶的波紋值是相關(guān)的，常用于汽車和其他高光澤應(yīng)用。對于一些應(yīng)用包括塑料、金屬和紡織品，整體紋理值可以用來客觀評估大多數(shù)的可見紋理。

　　表面測量的一次革命

　　強(qiáng)大的離線分析

　　高分辨率的圖像測量結(jié)果可以很容易的從Optimap 傳輸?shù)絇C，使Rhopoint Ondulo軟件或三方軟件如MOUNTAINS進(jìn)行處理。

　　數(shù)據(jù)傳輸簡單，使用標(biāo)配的USB密鑰或者接口線纜。

　　RHOPOINT Ondulo閱讀軟件具有*的數(shù)據(jù)分析和報(bào)告功能。

　　可以識(shí)別、映射和量化表面效果如紋理、平整度、局部缺陷的數(shù)量、尺寸和的形狀等。

范圍Range	波長Wave Length (mm)	曲率Curvature (m-1)
K	0.1 – 30.3	2.246
Ka	0.1 – 0.3	1.526
Kb	0.3 – 1.0	1.217
Kc	1.0 – 3.0	0.390
Kd	3.0 – 10.0	0.446
Ke	10.0 – 30.0	0.199

　　可以定性輪廓的曲率、斜率和高度

　　Ondulo中的缺陷分析例子

　　感興趣區(qū)域的3D圖像可以分離評估

　　高度 (μm)

　　橫截面在Y-Y

　　高度 (μm)

　　橫截面在X-X

　　拖放功能使得圖像和數(shù)據(jù)可以很容易地轉(zhuǎn)移到Microsoft Word用作報(bào)告

　　靈活的屏幕視圖功能使得映射結(jié)果以單、雙或者3D格式顯示

　　表面的3D視圖和X/Y橫截面視圖可以*旋轉(zhuǎn)

　　雙視圖可以比較已保存的結(jié)果

　　縮放尺寸可以任選曲率(m-1)或μm.

　　*的測量技術(shù)

　　OPTIMAPTM采用的*的測量技術(shù)被稱為相位階梯偏折Phase Stepped Deflectometry (PSD)。這種白光光學(xué)技術(shù)使用一個(gè)周期的正弦波形模型來測量表面輪廓。通過高分辨率的顯示器和攝像頭捕獲圖像。

　　這種正弦波形像一把尺子使得光源的縱坐標(biāo)被映射在表面上，因?yàn)樗麄兒驼夷Ｐ洼喞目臻g相位成比例。

　　通過轉(zhuǎn)移或“步進(jìn)"的波形相位，使表面上的每個(gè)點(diǎn)，通過相機(jī)上每個(gè)像素的對應(yīng)點(diǎn)精確測量。利用表面、顯示屏和相機(jī)之間的幾何關(guān)系，反射光線在空間上模擬計(jì)算表面上每個(gè)點(diǎn)的法線方向從而獲得那個(gè)點(diǎn)的輪廓。