上海麟軒儀表有限公司
測量范圍 | 0~70m | 測量精度 | ±15mm |
---|---|---|---|
產地 | 國產 | 分辨率 | 1mm |
工作電壓 | 24V | 工作頻率 | 26GHzHz |
環境溫度 | -40~250℃ | 加工定制 | 是 |
應用領域 | 制藥,造紙,礦產,鋼鐵,電力 | 執行質量標準 | 國標 |
RD70系列高頻雷達物位計,RD706型過程容器、固體料位高頻雷達物位計
采用高達26GHz的發射頻率
高頻率與信噪比,是低介電常數介質的不錯選擇
波束角小,能量集中,具有更強的抗*力,大大提高了測量精度與可靠性
測量盲區會更小,對于小罐測量也會去的優異效果
波長更短,對于小顆粒介質表面的物位測量效果更好
RD706型過程容器、固體料位高頻雷達物位計
RD706型過程容器、固體料位高頻雷達物位計
一、產品概述
雷達物位計測量大距離可達80米。天線被進一步優化處理,新型的快速的微處理器可以進行更高速率的信號分析處理,使得儀表可以用于如:結露或固體料倉非常復雜的測量條件。
RD706型過程容器、固體料位高頻雷達物位計
二、測量原理
雷達物位計天線發射較窄的微波脈沖,經天線向下傳輸,微波接觸到被測介質表面后被反射回來,再次被天線系統接收并將其傳輸給電子線路部分自動轉換成物位信號。(因為微波傳播速度極快,電磁波到達目標并經反射返回接收器這一來回所用的時間幾乎是瞬間的)
三、技術參數
應 用:固體料位、過程容器、強粉塵、易結晶、結露場合
測量范圍:70米
過程連接:螺紋、法蘭
介質溫度:-40~250℃
過程壓力:-0.1~4MPa
精 度:±15mm
頻率范圍:26GHz
防爆等級:Exia II CT6,;Exd II CT6
防護等級:IP67
信號輸出:4~20mA/HART(兩線/四線)
RD706型過程容器、固體料位高頻雷達物位計
四、性能特點
1、波束角小,能量集中,具有更強抗*力,大大提高了測量精度和可靠性;
2、天線尺寸小,便于安裝和加裝防塵罩等天線防護裝置;
3、測量盲區更小,對于小罐測量也會取得良好的效果;
4、波長更短,對小顆粒物質的料位測量更適合。
5、采用了*的微處理器技術,雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
6、采用脈沖工作方式,雷達物位計發射功率極低,可安裝于各種金屬、非金屬容器內。
五、產品分類
雷達物位計按工作方式可分為接觸式雷達物位計和非接觸式雷達物位計,具體如下:
1、非接觸式雷達物位計
非接觸式雷達物位計常用喇叭或桿式天線來發射與接收微波,儀表安裝在料倉頂部,不與被測介質接觸,微波在料倉上部空間傳播與返回。
非接觸式雷達物位計,按照微波的波形又可分為脈沖雷達物位計和調頻連續波雷達物位計。
2、接觸式雷達物位計
接觸式雷達物位計一般采用金屬波導體(桿或鋼纜)來傳導微波,儀表從倉頂安裝,導波直達倉底,發射的微波沿波導體外部向下傳播,在到達物料面時被反射,沿波導體返回發射器被接收。
這種可以通過導波線或導波桿直接接觸所測物料來測量的接觸式雷達物位計,主要是導波雷達物位計,根據其采用的金屬波導體不同,又可進一步細分為:纜式(單/雙)、桿式(單/雙)和同軸導波雷達物位計。
相比接觸式雷達物位計,非接觸式雷達物位計具有安裝簡單、維護量少、使用方式靈活、不受到倉內粉塵、溫度等因素的影響等優點。
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