日立HITACHI品牌 FOUNDRY-MASTER Pro2直讀光譜儀
訂購說明：
FOUNDRY-MASTER Pro2 直讀光譜儀是一種金屬分析儀，專為每個生產階段提供有效分析，同時*不會影響您的生產率。得益于該分析儀接近持續的可用性和高分辨率的動態檢測器，可以更快速地獲得詳細結果，從而減少生產停機時間并降低成本。
FOUNDRY-MASTER Pro2 是成本效益的選擇，可減少氬氣消耗量，并有效降低運營成本。
FOUNDRY-MASTER Pro2 兼具性能和效率，因此成為金屬行業重要的分析工具。
亮點和應用FOUNDRY-MASTER Pro2 直觀的用戶界面和眾多功 能，使分析工作更容易。把樣品放在火花臺上，開始 測量即可讀出結果。對于各種應用，特別是鋼鐵中的 碳和氮分析，檢測限低，在QA/QC和熔體過程控制方面提供了優異的結果。
較大限度提升可用性，同時盡可能減少停機時間。提供出色的*穩定性、有效性和準確性。通過更高的樣品處理量提高生產力。借助優化的能耗和氬氣消耗降低購置成本。包括市面上大規模的金屬數據庫，可協助您快速 而輕松地識別牌號。提供確定酸溶鋁和酸不溶鋁的方法。
采用三邊開放的*火花臺，使得FOUNDRY-MASTER Pro2 成為分析各種尺寸和形狀樣品的理想之選。牌號數據庫FOUNDRY-MASTER Pro2 中已安裝有市面上大規模的牌號數據庫，可快速而輕松地識別牌號。日立分析儀器的牌號數據庫能提供69個國家和標準中超過339,000種金屬材料的1200多萬條記錄。只需幾次點擊，即可更新儀器的牌號數據庫 – 無需耗費時間搜索各種規范和牌號目錄。為何選擇日立分析儀器固定式直讀光譜儀？
臺式/ 落地式直讀光譜儀從廢舊金屬中的雜質元素的分析、來料檢測，到鑄造過程中的質量控制以及成品檢測，連貫的質量控制在整個金屬加工行業中都至關重要。直讀光譜法(OES) 是用于確定各種金屬的元素組成的非常值得信賴和廣泛使用的分析技術。我們的直讀光譜儀(OES)提供準確性和有效性高的分析結果。功能強大又簡單易用的軟件包，覆蓋幾乎所有的應用范圍。對多種元素的檢出限低不僅可以分析絕大多數金屬及其合金中的主量和次量元素，還可以分析痕量的雜質元素較寬的光譜范圍，覆蓋幾乎所有關心的元素，包括鋼中的氮綜合的牌號數據庫結果觸手可及：結果形式多樣、自動存儲使用既耐用又有效的技術，獲得高分析性能很短的開機和測量時間三面開放的火花臺高分辨率多CCD光學系統，以獲得高的光譜分辨率多樣式的結果，分析報告和結果處理選項通過峰值位置校準(PPA)確保優異的*穩定性即使在惡劣條件下也可持續使用
包含牌號數據庫
我們所有的直讀光譜儀均已包含大部分的金屬數據庫，幫助您快速輕松地鑒定牌號
能提供69個國家和標準中超過32萬種金屬材料的1000多萬條記錄
幾次點擊，就能升級您儀器的牌號數據庫
無需浪費時間搜索規范和牌號目錄
通過幾個簡單和綜合的步驟，您可以：
查找國外類似的金屬產品，并一起比較備選材料
根據特定的化學成分或機械性能，進行*金屬搜索
金屬材料破解，并為特定的應用尋找正確的牌號
查找有效、可追溯的多種條件和溫度下的機械、物理以及其他特征數據
跟隨各個國家和*標準不斷變化的步伐（如 AISI/ASDM、DIN、EN、BS、JIS、GOST等等）
注：該儀器未取得中華人民共和國科研注冊證，不可用于臨床診斷或治療等相關用途
技術規格：
光學系統 |
羅蘭圓 | 帕邢-龍格裝置 |
高分辨率多 CMOS | 優化的像素分辨率 |
波長范圍 | 130 – 780 納米 |
焦距 | 350 毫米 |
固態數字光源 |
| 計算機控制參數,DSP 160 MHz 16 位 |
頻率 | 80 – 500 Hz |
電壓 | 250 – 500 V |
| 高能預燃技術 (HEPS) |
技術規格 |
高度 / 寬度 / 深度 | 1140 毫米/730 毫米/850 毫米 |
重量 | 180 千克 |
電源 | 90 – 250 V AC, 50 / 60 Hz |
耗電量 | 1000 瓦 |
操作功率 / 待機功率 | 50 瓦 (100 瓦電源接入) |
讀出系統 |
外部 PC 工作站 | Microsoft® Windows® 用戶界面 |
可選件 |
適配器 | 制樣設備 |
備件 | 耗材 |
選型指南：
型號 | FOUNDRY-MASTER Smart | FM EXPERT | FOUNDRY MASTER Pro2 | OE750 |
無限制，儀器可升級 | √ | √ | √ | √ |
低碳鋼分析(5ppm LOD) | × | × | √ | √ |
低合金鋼和鑄造熔體控制中的氮 | × | √ | √ | √ |
可選爐料修正計算軟 | √ | √ | √ | √ |
Pb, Sn 基體 | × | √ | √ | √ |
測量低合金鋼中酸溶鋁和酸不溶鋁 | × | × | √ | √ |
通過以下取得光學潔凈度 | 氬氣凈化 | 氬氣凈化 | 中壓系統，即真空和氬氣凈化相結合。 | 中壓系統，即真空和氬氣凈化相結合。 |
針對痕量和雜質元素的檢測限低 | * | ** | *** | **** |
Pb, Si, Sn 等的改良檢出限 | × | × | √ | √ |
痕量元素，例如 Se, La, Te 等 | × | × | √ | √ |
