SPA-6100型半導體電學參數(shù)測試設(shè)備IV+CV曲線掃描儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性...

SPA-6100型晶體管特性圖示儀iv+cv測試機可以幫助用戶根據(jù)測試需要，靈活選配測量單元進行升級。產(chǎn)品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分...

普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下納安級測量、1000A脈沖大電流輸...

四探針技術(shù)要求使用四根探針等間距的接觸到材料表面。在外邊兩根探針之間輸出電流的同時，測試中間兩根探針的電壓差。后，電阻率通過樣品的幾何參數(shù)，輸出電流源和測到的電...

普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下納安級測量、1000A脈沖大電流輸...

SPA-6100單管igbt測試設(shè)備參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品...

SPA-6100型半導體器件測試設(shè)備iv+cv一鍵測量可以幫助用戶根據(jù)測試需要，靈活選配測量單元進行升級。產(chǎn)品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電...

柔性材料形變測試SMU數(shù)字源表認準普賽斯儀表，普賽斯S系列、P系列源表標準的SCPI指令集，Y秀的性價比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，普賽斯儀表是手家國產(chǎn)數(shù)字源表...

普賽斯教學實驗平臺采用一體化設(shè)計，集成了數(shù)字源表、LCR電橋、萬用表、示波器等通用儀表；搭配豐富的測試夾具及實驗教材，滿足基礎(chǔ)實驗教學需求；測試設(shè)備簡單易用，接...

武漢普賽斯是國內(nèi)醉早生產(chǎn)源表的廠家，產(chǎn)品系列豐富：產(chǎn)品覆蓋不同的電壓、電流范圍，產(chǎn)品已經(jīng)過了市場的考驗，市場應(yīng)用率高；SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系...

利用普賽斯這套國產(chǎn)化高精度數(shù)字源表+探針臺的測試系統(tǒng)，可以為您完成任何晶圓、芯片、微小電子器件的測試。數(shù)字源表搭建微電子教學實驗平臺認準普賽斯儀表

武漢普賽斯推出的數(shù)字源表搭建簡易CV測試系統(tǒng)CV測試機主要由源表、LCR表、矩陣開關(guān)和上位機軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz，源表(S...

武漢普賽斯是國內(nèi)醉早生產(chǎn)源表的廠家，產(chǎn)品系列豐富：產(chǎn)品覆蓋不同的電壓、電流范圍，市場應(yīng)用率高；SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，直流更大、精度更...

數(shù)字源表搭建MOS電容CV特性測試實驗平臺認準普賽斯儀表，普賽斯教學實驗平臺采用一體化設(shè)計，集成了數(shù)字源表、LCR電橋、萬用表、示波器等通用儀表；搭配豐富的測試...

SMU源表搭建場效應(yīng)晶體管IV特性測試實驗認準普賽斯儀表，普賽斯教學實驗平臺采用一體化設(shè)計，集成了數(shù)字源表、LCR電橋、萬用表、示波器等通用儀表；搭配豐富的測試...

普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備，產(chǎn)品覆蓋半導體領(lǐng)域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU）的第三代半導體功率器件靜...

普賽斯PMST-3500V半導體功率測試設(shè)備,集多種測量和分析功能一體,可以精準測量功率半導體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、納安級電流...

微電測試數(shù)字源表國產(chǎn)電流源認準普賽斯儀表，武漢普賽斯是國內(nèi)醉早生產(chǎn)源表的廠家，產(chǎn)品系列豐富：產(chǎn)品覆蓋不同的電壓、電流范圍，產(chǎn)品已經(jīng)過了市場的考驗，市場應(yīng)用率高；...

SPA-6100分立器件檢測儀iv+cv測試儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品...

芯片測試作為芯片設(shè)計、生產(chǎn)、封裝、測試流程中的重要步驟，是使用特定儀器，通過對待測器DUT(DeviceUnderTest)的檢測，區(qū)別缺陷、驗證器件是否符合設(shè)...