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閱讀:753發布時間:2021-10-14
導讀:本文主要介紹非接觸式光學形貌測量中遇到的常見難題,包括測量速度和精度的取舍、過高的傾斜角度、*或極低的表面反射率等等情況。
光學測量具有不接觸樣品、不留下測量痕跡、速度快等等各種優點,但世界上沒有任何一種技術是的,今天為大家普及一下光學測量可能會遇到的常見難題,以供在調研和購買階段參考。
首先,測量領域要始終牢記的一點是“速度和精度不可兼得"。一般來說,測量速度越快,測量精度就越值得質疑,數據的可信性也越值得推敲。想想看,你的眼睛也可以看做一臺相當精密的量測儀器,但是在你迅速跑動的過程中,你看東西的清晰度如何呢?
其次,光學測量在針對傾斜角度很高的區域時,數據經常會失真。例如你要測量硅片上的電極,這些電像是“凸"字的上半邊,基板是下半邊。傳感器一般是垂直于樣品表面的,光到達凸字最上邊的“一",可以很好地反射回去;但到了兩邊的“丨",大部分光就會被反射到不知道什么地方去了,只有少量的光能返回去被轉化成數字信號。下圖中圈出的角度越接近90°,測量就越困難,數據也越容易失真。
再次,需要知道的是,測量是一回事,解析又是一回事。市場上很多光學測量儀器精度可能不夠,無法測量你的樣品,但是測量軟件上展示出來的結果卻很平滑很漂亮,為什么呢?這無非是在輸出測量結果的數據或者圖形之前,軟件已經進行了數學計算和算法處理,給你看的結果,是加了“濾鏡"處理過的而已。
最后,光學測量靠的是光的各種原理,例如折射、反射、穿透、干涉等等;同時,所使用的光源也多種多樣:白光、激光、X-Ray、LED,不一而足。不同的光源具有不同的波長,面對不同材質的樣品時,其測量效果也會不一樣。半導體、光學元器件等等行業的產品,其材質對光具有不同的吸收曲線(Absorption Curve),或者高低不同的反射率、折射率,這些因素都會影響最終的測量結果。這也是為什么很多時候光看彩頁上的參數是不夠的,實際測量樣品的結果才說服力。
使用者的測量需求千差萬別,綜合考量精度、速度、預算等各個方面的狀況,才能找到的儀器。但市場上的產品種類繁多,令人眼花繚亂,找到對的人幫您推薦合適的產品,能節省您大量的時間和精力。
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關鍵詞:臺階儀 | 光學形貌儀 | 三維表面形貌 | 表面粗糙度儀
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