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T802納米激光粒度儀|納米粒度分析儀

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更新時間：2020-10-13 12:41:50瀏覽次數：462次

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產品簡介

詳細介紹

T802納米激光粒度儀|納米粒度分析儀

發布時間：2020/06/21 點擊量：

T802光相關納米粒度儀
一、產品簡介
T802光子相關納米粒度儀是采用動態光散射原理的納米粒度儀。其測量原理建立在分散在液體顆粒的布朗運動基礎之上，顆粒越小，運動速度越快，顆粒越大，運動速度越慢。它采用HAMAMATSU高性能光電倍增管和我公司研制的高速數字相關器作為核心器件，通過測試某一角度的散射光的變化并求出自相關函數（即擴散系數），根據Stokes－Einstein方程計算出顆粒粒徑及分布。它具有快速、高分辨率、重復及準確等特點，同時還具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態的優點，是納米顆粒粒度測試的選擇產品。
二、主要性能特點
*的測試原理該儀器采用動態光散射原理，其測試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性；
高靈敏度與信噪比核心部件采用公司CR256數字相關器，它實時完成動態散射光強的采集和自相關函數運算，從而有效地反映不同大小顆粒的動態光散射信息，為測試結果的準確度奠定基礎；
穩定的光路系統采用光纖技術搭建而成的光路系統，使光子相關譜探測系統不僅體積小，而且具有很強的抗*力，從而保證了測試的穩定性；
高精度恒溫控制系統采用半導體溫控技術，溫控精度高達±0.2℃，使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動速度變化導致的測試偏差，保證測試結果準確度及穩定性。
三、技術參數

規格型號	T802
執行標準	GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996 GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008
測試范圍	1-10000nm（與樣品有關）
濃度范圍	0.1mg/ml--100mg/ml(與樣品有關)
準確度誤差	<1%（國家標準樣品D50值）
重復性誤差	<1%（國家標準樣品D50值）
激光光源	光纖半導體激光器，λ= 532nm，
探測器	光電倍增管（PMT）
散射角	90^o
樣品池體積	4mL
溫控范圍	5-40 ℃（精確到0.1℃）
測試速度	<5 Min
體積	480mm270mm170mm
重量	12Kg
數字相關器主要參數	自相關通道：256 基線通道：4 小分辨時間：6ns 延遲時間：100ns-10ms（可調）運算速度：162M/S