光電直讀光譜儀WLD-1C1/3C1北分瑞利
WLD-XC1型光電直讀光譜儀是北京瑞利分析儀器有限公司(原北京**光學儀器廠)積30多年生產經驗及用戶使用實踐，經不斷改進提高，*新提供給用戶的全新儀器。
WLD-1C1型光電直讀光譜儀(非真空型)適合對有色金屬(如鋁、鋁合金、鎂合金、銅等)多種基體進行快速定量分析。
WLD-3C1型光電直讀光譜儀(真空型)適合對黑色金屬(如高合金鋼、合金鑄鐵、鎳基)及有色金屬(如鋁、銅及合金、鎂合金)等多種基體進行快速定量分析。該型號儀器除具備系列老產品(750型)分析精密度高、性能穩定等優點外，特別對各類鑄造鋁合金，更具有良好的分析效果。
性能特點
● 多通道檢測方式，分析速度快，樣品上機15-50秒鐘打印結果。
● 結構合理，機械性能穩定，24h光學系統漂移量小于10μm。
● 密封充氮氣光學系統用于分析波長小于230nm紫外波長的元素。
● 程控變頻火花光源，性能穩定，適用范圍廣。
● 測量系統可靠，有效降低故障率。
● 分段積分的測量方式，分析動態范圍寬。
● 用光導纖維傳遞信息，有效抑制了電磁干擾。
● Windows操作系統應用軟件，操作簡單方便。
● 可根據用戶的不同要求增加通道。
主要技術指標：
1、 激發光源
程控變頻火花光源
電源電壓：AC 50Hz、220V±10%
輸出功率：400VA
頻率：100HZ~800HZ八檔可選
引燃：脈沖幅度：10KV
2、光學系統：
分析波段范圍：200-550nm（WLD-1C1）；175～450nm(WLD-3C1)
色散率：0.55nm/mm(上等）
凹面光柵：
曲率半徑 750mm
刻劃密度：2400線/mm
入射狹縫寬度：20μm
出射狹縫寬度：50μm、75μm
安裝通道數：36個（*多）
分光儀局部恒溫：30℃±0.1℃
3、 測控系統
測量方式：分段積分
測量重現性：RSD≤0.2%
光電倍增管高壓電源：電壓：-1000V 穩定度：8小時優于0.5%
4、 數據處理系統
硬件配置：品牌計算機（國內聯保）擴展CAN即可 24針80列中英文打印機
應用軟件：為windows系統下的中文操作軟件，操作方便簡潔。同時，從用戶角度考慮，適合分析人員的操作習慣。分析軟件具有光譜分析的基本分析功能
外形尺寸：
主機：1500*1000*1200（長寬高）
總重量：約480kg
主要分析元素及測量范圍（未列元素協商解決）
| 元素 | 含量范圍% | | 元素 | 含量范圍% |
| Fe | 基體 | | Ti | 0.001-3.00 |
| P | 0.001-0.50 | | Co | 0.01-15.00 |
| S | 0.001-0.50 | | Al | 基體 |
| B | 0.001-0.50 | | Mg | 基體 |
| C | 0.001-4.00 | | Pb | 0.001-10.00 |
| Mo | 0.01-5.00 | | Zr | 0.001-3.00 |
| W | 0.01-20.00 | | Nb | 0.001-3.00 |
| Si | 0.001-25.00 | | Bi | 0.001-0.50 |
| Mn | 0.002-20.00 | | Sn | 0.001-10.00 |
| 元素 | 含量范圍% | | 元素 | 含量范圍% |
| Cr | 0.005-30.00 | | Sb | 0.001-0.50 |
| Ni | 0.005-30.00 | | As | 0.001-0.30 |
| Cu | 基體 | | La | 0.001-0.50 |
| V | 0.002-3.00 | | Ce | 0.001-0.50 |
| Cd | 0.001-0.50 | | Be | 0.001-0.50 |
| Sr | 0.001-0.50 | | Ga | 0.001-0.50 |
| Nd | 0.001-0.50 | | Pr | 0.001-0.50 |
| Zn | 0.01-40.00 | | Sm | 0.001-0.50 |
試驗室條件：
環境：溫度15-25℃，相對溫度不大于70%
氬氣純度：≥99.999%
電源：AC50Hz
分兩組供電 激發光源 單相220V±10%1KVA
WLD-1C1主機 單相 220V±10%1KVA
WLD-3C1主機 220V±10%1.5KVA
測量系統0.5KVA
試驗室面積≥10平方米
