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日本精工膜厚儀SFT-110-膜厚計

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產品簡介

產地	國產	加工定制	是

日本精工膜厚儀SFT-110日本精工電子有限公司的子公司精工電子納米科技有限公司將在5月初推出配備自動定位功能的［X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110］，使操作性進一步提高。對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍

詳細介紹

儀器簡介：日本精工膜厚儀SFT-110

日本精工電子有限公司的子公司精工電子納米科技有限公司將在5月初推出配備自動定位功能的［X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110］，使操作性進一步提高。對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進行測量管理，可保證產品的功能及品質，降低成本。精工從1971年推出非接觸、短時間內可進行高精度測量的X射線熒光鍍層厚度測量儀以來，已經累計銷售6000多臺，得到了國內外鍍層厚度、金屬薄膜測量領域的高度關注和支持。
為了適應日益提高的鍍層厚度測量需求，精工開發了配備有自動定位功能的X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110。通過自動定位功能，僅需把樣品放置到樣品臺上，就可在數秒內對樣品進行自動對焦。由此，無需進行以往的手動逐次對焦的操作，大大提高了樣品測量的操作性。近年來，隨著檢測零件的微小化，對微區的高精度測量的需求日益增多。SFT-110實現微區下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。并且，配備有新開發的薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準物質也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量，可對應更廣泛的應用需求。

技術參數：日本精工膜厚儀SFT-110

［主要產品規格］
檢測器：比例計數管
X射線源：空冷式小型X射線管
準直器： 0.1、0.2mmφ2種
樣品觀察： CCD攝像頭
樣品臺：[固定] 535×530mm
[電動] 260×210mm (移動量 X:250mm, Y:200mm)
樣品大高度：150mm

關鍵詞：測量儀電子元器件標準