測(cè)厚儀使用方法： 1.玻璃纖維層測(cè)厚儀在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注重標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
2.玻璃纖維層測(cè)厚儀在測(cè)量的時(shí)候要注重，側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
3.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注重基體金屬的臨界厚度，假如大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
4.在測(cè)量的時(shí)候要注重試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
5.測(cè)量前要注重四周其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，假如會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
6.玻璃纖維層測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)要注重不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面外形的忽然變化很敏感。
7.在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
8.玻璃纖維層測(cè)厚儀在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注重儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此玻璃纖維層測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
功能特點(diǎn)：1、玻璃纖維層測(cè)厚儀適合測(cè)量金屬、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維等其他材料的厚度；
2、它符合人體工程學(xué)的防震設(shè)計(jì)，邊角帶有橡膠保護(hù)，防止跌落損壞；
3、多功能快捷按鍵，可根據(jù)設(shè)備的工作模式調(diào)整其用途，操作界面友好直觀；
4、可以搭配多種不同頻率、不同尺寸的探頭使用；
5、玻璃纖維層測(cè)厚儀具有單點(diǎn)測(cè)厚和掃描測(cè)厚兩種測(cè)厚工作模式；
6、支持具有多種校準(zhǔn)特性的傳感器（PH3系列探頭最多六種，NF-G探頭最多四種，F(xiàn)G探頭最多兩種）。
7、可設(shè)置涂層厚度上、下限值，超出范圍自動(dòng)報(bào)警。
8、測(cè)量結(jié)果統(tǒng)計(jì)功能，顯示測(cè)量次數(shù)、涂層厚度平均值、值、最小值和方差。
9、多種測(cè)量模式可選，單點(diǎn)測(cè)量、連續(xù)測(cè)量和掃描測(cè)量，可分析一段長(zhǎng)度范圍內(nèi)的涂層厚度均勻度（基于所選的傳感器）。
基本技術(shù)參數(shù)：| 測(cè)厚范圍 | 0.5μm – 120mm（取決于所連接的傳感器） |
| 可選傳感器數(shù)量 | 無限制（根據(jù)客戶的選擇） |
| 溫度范圍 | 對(duì)于設(shè)備：-10…+40℃（對(duì)于防凍版本為-30℃）；
對(duì)于傳感器：-40…+50℃（對(duì)于高溫傳感器：為+350℃）； |
| 校準(zhǔn)方法 | 加法式單點(diǎn)、兩點(diǎn)、單點(diǎn)自動(dòng)倍增校正 |
| 電源 | 3.7-4.2V，1500-1700mAh，內(nèi)置鋰離子電池 |
| 連續(xù)運(yùn)行時(shí)間 | 至少12小時(shí) |
| 與PC的連接 | USB 2.0通道 |
| 外形尺寸 | 60×125×25mm |
| 主機(jī)重量 | 120g |
| 充電時(shí)間 | 4小時(shí) |
交付組件：帶傳感器的儀器主機(jī)（傳感器數(shù)量和型號(hào)由客戶選擇）、涂層厚度標(biāo)準(zhǔn)片和標(biāo)準(zhǔn)金屬基板（基于所選的傳感器）、充電器、mini-USB—USB A型數(shù)據(jù)線纜（用于連接計(jì)算機(jī)）、軟件光盤（用于傳輸數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)并處理測(cè)量結(jié)果）、使用說明書（中英文各一份）、防震儀器箱。
K6-C的F系列探頭包含一種校準(zhǔn)特性曲線，可用于測(cè)量鐵磁性基材表面的涂層厚度。
F3傳感器
用于測(cè)量鐵磁性材料上的非導(dǎo)電涂層（油漆、粉末、陽極氧化物等）和可導(dǎo)電的非鐵磁性涂層（鋅、鉻等）。測(cè)量范圍為6毫米。
技術(shù)特點(diǎn)：
測(cè)量范圍：0-6000μm（6mm）；
測(cè)量精度：±0.02T μm；
測(cè)量區(qū)域直徑：Φ8mm；
最小基底直徑：Φ10.5mm (Φ2.5 mm)；
探頭外形尺寸：Φ19 ×83 mm；
注：帶有彈簧加載測(cè)量系統(tǒng)的探頭，適用于厚涂層測(cè)量。
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