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涂層測厚儀MiniTest2500/4500

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更新時間：2022-08-19 13:45:11瀏覽次數(shù)：179次

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北京天創(chuàng)時代檢測設備有限公司

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產(chǎn)品簡介

涂層測厚儀MiniTest2500/4500德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest2500/4500涂層測厚儀作為MiniTest1100-4100系列的升級產(chǎn)品，為涂層測量領域的廣泛任務提供了多種探頭、不同的校準方法和評估選項

詳細介紹

涂層測厚儀MiniTest2500/4500

德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest 2500/4500涂層測厚儀作為MiniTest1100-4100系列的升級產(chǎn)品，為涂層測量領域的廣泛任務提供了多種探頭、不同的校準方法和評估選項。
MiniTest 2500/4500涂層測厚儀具有IP65防護等級，人機工程學設計，高對比度顯示屏和背光鍵盤，以及其他有用的功能。可存儲多達200萬個測量值，通過USB接口向計算機傳輸數(shù)據(jù)。MiniTest4500還提供藍牙連接。
MiniTest2500/4500兼容MiniTest1100系列探。

相關產(chǎn)品

	儀器特點

- 鋼上的非磁性涂層厚度范圍可達0~50 mm
- 用于有色金屬上的絕緣涂層厚度范圍可達0~100 mm
- 耐高溫探頭，溫度高達250°C和350°C
- 測量細管內(nèi)壁的直角加長桿探頭
- 所有探頭都配有耐磨表面，確保使用壽命。

	功能介紹

型號	MiniTest2500	MiniTest4500
可存儲的讀數(shù)總數(shù) 批組數(shù)量具有獨立校準值的應用程序存儲數(shù)量具有相同校準值的批組每個應用程序存儲的批組數(shù)量	2000000 1 - -	2000000 超過9500 99 99
統(tǒng)計功能(每批組)	kvar, n, max., min.	kvar, n, max., min., CP, CPK
校準	-	如果無基材使用，則通過涂層進行校準(CTC)
補償功能	-	用于從讀數(shù)中加/減一個恒定值
極限設置(用戶自定義)	-	超出限制時的光信號和聲音信號報警
測量單位	μm, mm, cm, mils, inch
接口可升級接口	USB -	USB和藍牙 4.0 報警輸出，腳踏開關觸發(fā)，RS 232接口
電源/每次更換電池的工作時間	3 x AA (LR06) 電池和USB/大約為150小時(不使用背光)
規(guī)范和標準	DIN EN ISO1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882；ISO 19840； ASTM B244,B499, D7091, E376
顯示	53 x 46 mm，帶背光
操作溫度/存儲溫度	10 ~60°C / –20 ~ 70°C
尺寸/重量	53mm x 89mm x 36mm/ 320g(儀器包括電池)，橡膠保護套90g
防護等級	IP 65

	探頭選擇

所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。

探頭	量程	低端分辨率	誤差	最小曲率半徑(凸/凹)	最小測量區(qū)域直徑	最小基體厚度
F05	0-500μm	0.1μm	±(1%+0.7μm)	0.75/5mm	3mm	0.1mm
F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm
F10	0-10mm	5μm	±(1%+10μm)	5/16mm	20mm	1mm
F20	0-20mm	10μm	±(1%+20μm)	10/30mm	40mm	2mm
F50	0-50mm	10μm	±(3%+50μm)	50/200mm	300mm	2mm
N02	0-200μm	0.1μm	±(1%+0.5μm)	1/5mm	2mm	50μm
N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%+1μm)	2.5mm	2mm	100μm
N10	0-10mm	10μm	±(1%+25μm)	25/100mm	50mm	50μm
N20	0-20mm	10μm	±(1%+50μm)	25/100mm	70mm	50μm
N100	0-100mm	100μm	±(1%+0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm
FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	F：0.5mm/N：50μm
FN1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	平面/6mm	5mm	F：0.5mm/N：50μm
F2HT	0-2000μm	0.2μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm

注：	F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能 FN1.6/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量 N.08Cr用于測量銅上鍍鉻。 F2HT為高溫探頭，有兩款，允許在高達250°C或350° C表面溫度的熱表面上進行涂層厚度測量