渦流涂鍍層測厚儀的原理及影響測量精度的原因
閱讀：10發(fā)布時間：2025-4-9
1.渦流覆層測厚儀的基本原理
渦流涂鍍層測厚儀的基本工作原理是,當測頭與被測式樣接觸時，測頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場，使置于測頭下的金屬導體產(chǎn)生渦流，其振幅和相位是導體與測頭之間非導電覆蓋層厚度的函數(shù)。即該渦流產(chǎn)生的交變電磁場會改變測頭參數(shù)，而測頭參數(shù)變量的大小，并將這一電信號轉換處理,即可得到被測涂鍍層的厚度。
2. 影響測量精度的原因
(1) 覆蓋層厚度大于25祄時，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比；
(2) 基體金屬的電導率對測量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關；
(3) 任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度，只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響；
(4) 渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應，即對靠近式樣邊緣或內(nèi)轉角處的測量是不可靠的。
(5) 試樣的曲率對測量有影響，這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大；
(6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大；
(7) 渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此測量前應清除測頭和覆蓋層表面的污物；測量時應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸。
