<tfoot id="qqie6"></tfoot>

<ul id="qqie6"></ul>

當前位置：孚光精儀（中國）有限公司>>光學測量系列>>薄膜測厚儀

薄膜測厚儀

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協議為準

產品型號FPTOH-TOHOSPEC3100

品牌

廠商性質經銷商

所在地

在線詢價收藏產品

聯系方式：陳小姐查看聯系方式

更新時間：2023-09-12 12:39:34瀏覽次數：318次

聯系我時，請告知來自儀表網

產品分類 品牌分類

  光學測量系列

全部產品列表

暫無信息

孚光精儀（中國）有限公司

經營模式：經銷商

商鋪產品：1482條

所在地區：

聯系人：陳小姐（銷售）

詢價 給他留言

產品簡介

薄膜測厚儀TohoSpec3100是高精度薄膜厚度測量系統,采用小光斑光譜反射計獲得薄膜厚度信息,可靠的固態線性二極管陣列可快速、精確地測量單層薄膜，如氧化物、氮化物和光刻膠，以及厚度范圍為100至30m的多達3層薄膜堆疊的頂層

詳細介紹

薄膜測厚儀TohoSpec 3100是高精度薄膜厚度測量系統,采用小光斑光譜反射計獲得薄膜厚度信息,可靠的固態線性二極管陣列可快速、精確地測量單層薄膜，如氧化物、氮化物和光刻膠，以及厚度范圍為100Å至30µm的多達3層薄膜堆疊的頂層。
該薄膜測厚儀系統具有的價值，配有多達15種標準薄膜厚度測量算法，在世界各地的實驗室中使用，以緊湊的設計提供精確的薄膜厚度測量。
薄膜測厚儀應用
大量應用中提供精確的薄膜厚度測量。保證3層測量，在某些情況下根據參數超過3層。測量具有一定反射率的***光滑或半光滑表面
LED,太陽能，FPD/LCD，OLED，Photomask，電源設備，SOI,HDD磁頭等。
薄膜測厚儀規格參數
薄膜層數：***多3層
波長范圍：380-800nm
重復精度：2 Å
薄膜類型：可測
n&k數值：可測
測量時間：0.1-25秒
可測薄膜厚度：100Å~30um
可測晶圓尺寸：3,4,5,6,8英寸

關鍵詞：測厚儀標準

其他推薦產品更多>>