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光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀

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更新時(shí)間：2023-03-30 11:49:55瀏覽次數(shù)：238次

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孚光精儀（中國(guó)）有限公司

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光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀PHOTONRTUV-VIS-MWIR是為光學(xué)鍍膜分析檢測(cè)設(shè)計(jì)的鍍膜掃描分光光度計(jì),滿足光學(xué)樣品的無(wú)人值守薄膜測(cè)量

詳細(xì)介紹

光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀PHOTON RT UV-VIS-MWIR是為光學(xué)鍍膜分析檢測(cè)設(shè)計(jì)的鍍膜掃描分光光度計(jì),滿足光學(xué)樣品的無(wú)人值守薄膜測(cè)量。測(cè)量基片上同一區(qū)域的透射率和鏡面反射率–非常適合薄膜設(shè)計(jì)的反向分析,有效波長(zhǎng)范圍為185nm至5200nm，有六種配置。
光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀特點(diǎn)
在單個(gè)儀器中記錄寬波長(zhǎng)范圍配置：185-5200 nm
與市場(chǎng)上的其他工具相比，測(cè)量速度快10倍以上
改變?nèi)肷浣呛鬅o(wú)需重新校準(zhǔn)基線
測(cè)量基片上同一區(qū)域的透射率和鏡面反射率–非常適合薄膜設(shè)計(jì)的反向分析
的測(cè)量通道頭代表了此類最復(fù)雜和能力的機(jī)制，可用于表征不同AOI、極化下的涂層，光束偏差和光束位移范圍大，可達(dá)+/-60,0 mm
復(fù)雜的單元件和膠合棱鏡的無(wú)人值守測(cè)量：分束器、鳩棱鏡、直角棱鏡、五棱鏡和半五棱鏡、菱形棱鏡、屋頂棱鏡、施密特棱鏡、佩肯棱鏡。棱鏡可以安裝或卸載。
可測(cè)量極限入射角
改變?nèi)肷涔恻c(diǎn)大小
測(cè)量UV紫外光學(xué)薄膜

可選光譜范圍：185-1700nm, 185-3500nm, 185-5200nm, 380-1700nm, 380-3500nm, 380-5200nm
單色儀（攝譜儀）: Czerny-Turner
波長(zhǎng)采樣間隔：0.1-100nm
波長(zhǎng)掃碼速度：3000nm/min @5nm采樣步長(zhǎng)

關(guān)鍵詞：光度計(jì) 單色儀

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