這款熒光壽命測量系統是熒光壽命光譜儀,熒光壽命測量光譜儀,采用時間相關單光子計數TCSPC技術測量熒光壽命,是可靠的熒光壽命測試系統.時間相關單光子計數TCSPC已經開發成功超過25年,被廣泛認為是的熒光壽命測量技術，提供熒光衰減測試所需的超快時間分辨率
這款熒光壽命測量系統是熒光壽命光譜儀,熒光壽命測量光譜儀,采用時間相關單光子計數TCSPC技術測量熒光壽命,是可靠的熒光壽命測試系統.
時間相關單光子計數TCSPC已經開發成功超過25年,被廣泛認為是的熒光壽命測量技術，提供熒光衰減測試所需的超快時間分辨率。
這款熒光壽命測量系統采用亞納秒和皮秒脈沖二極管泵浦固體激光器DPSSL提供合適的波長,為合適的探測器提供足夠快的響應時間,還有現代電子計時設備來將復雜的采集技術融入PCI計算機板。DPSSL的研發使得現在可以設計出結構緊密體型小的熒光壽命測量系統，用于生物環境,藥業,化學技術半導體的納米技術,*的光學材料技術等領域。
熒光壽命測量系統構成
激光： STA-01SH
LD 激光驅動器
BS： 分束器
PD： 啟動脈沖的PIN光電二極管
PSU： 通用多通道電源（PA PMT，USB SMD，PD）
Att： 衰減器
USB SMD： 兩軸步進電機控制器 8SMC-USBh-B2-2
M1：電動翻轉透鏡- 8MR174-11+ 5MBM22SP-1
M2：透鏡@ 5MBM23-05
L1、L2： 聚焦透鏡 @ XYZ 平移臺
S@H： 樣品固定裝置 @ XYZ 平移臺
冷凝器： 檢測了的發射的消色差冷凝器
FN： 陷波濾波器（531 nm）
單色器
PMT： 單光子探測器
PA： 前置放大器(PMT)的光電倍增管
TEC： PMT熱電冷卻器
HVS： PMT高電壓
PC 和PCI TCSP–以PC 為基礎的采集系統
CCD（USB）
熒光壽命測量系統應用
生物技術與生物醫學科學
半導體科學與技術
激光材料與*光學材料的研究
環境保護
可能的發展
FRET技術
3D 生命壽命微測圖
終身板扶手（裝配線多樣本壽命分析）
熒光壽命測量系統軟件
熒光（或等離子體發射）的時間分辨光譜
空間分辨熒光壽命測量（壽命映射）
3D顯示數據和時間/波長軸剖面繪圖
發射衰減動力學反褶積
時間分辨的PL和PLE光譜軟件提供實驗采集數據的聲音和可視圖。有5個主要的測量制度：
動力衰減探測器（波長/光子能量）和激勵源（波長/光子能量和強度）的確定參數
在設置了激勵波長（能量）和強度條件下，在探測器波長（能量）里動力衰減掃描
在設置了探測器波長（能量）和強度條件下，在激勵波長（能量）里動力衰減掃描
在設置了探測器波長（能量）和激勵波長（能量）條件下，在激勵強度里動力衰減掃描
光子計數模式下的CW PL / PLE光譜，可以在掃描激勵平均強度的過程中測得。2個窗口實時顯示（RTD）表明動態積累過程（左窗口）和PL譜積分（PLE, I-dependence）–右窗口。
使用熒光壽命測量系統測量實例:
實驗1:測量ZnSe晶體中的雙光子激發熒光
實驗2：ZnSe晶體中的雙光子激發熒光和選定光子能量的運動衰減的3D圖
實驗3：ZnSe晶體中的雙光子激發熒光和選定延遲時間頻譜的3D圖
熒光壽命測量系統規格
測量光譜范圍: 200-1050nm
（300–1750nm需使用PMT和InGaAs光電陰極）
光譜分辨率： 0.05nm
可用激發波長: 1062nm,531nm,354nm,265.5nm
壽命測量域: 64·10-9–64秒
掃頻頻率 10~107Hz
時間分辨率
無反褶積 1ns
有反褶積 0.25ns
檢測到的信號動態范圍 36bit
10秒采集時間的信噪比 > 100
