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無機(jī)閃爍探測(cè)器光學(xué)成像系統(tǒng)

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更新時(shí)間：2023-06-18 09:57:25瀏覽次數(shù)：184次

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孚光精儀（中國）有限公司

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產(chǎn)品簡介

無機(jī)閃爍探測(cè)器是采用無機(jī)閃爍晶體材料制成的閃爍體探測(cè)器,當(dāng)電離輻射相互作用時(shí)這些無機(jī)閃爍晶體材料具有發(fā)光的特性

詳細(xì)介紹

無機(jī)閃爍探測(cè)器是采用無機(jī)閃爍晶體材料制成的閃爍體探測(cè)器,當(dāng)電離輻射相互作用時(shí)這些無機(jī)閃爍晶體材料具有發(fā)光的特性。

無機(jī)閃爍探測(cè)器非常適合伽瑪射線探測(cè)器。伽馬射線的探測(cè)要求閃爍體材料具有高密度和高原子序數(shù),無機(jī)閃爍晶體滿足光波阻擋能力和光學(xué)透明度的要求,其密度約為3～9g/cm3，非常適合吸收穿透γ射線輻射,高Z值的材料用于高能（>1兆電子伏）伽馬射線光譜分析。

由于光電子的統(tǒng)計(jì)在精確測(cè)定輻射能量中發(fā)揮重要作用,因此對(duì)于所有的能譜應(yīng)用來說,使用具有高光輸出的閃爍材料。另一方面,快速發(fā)光(熒光過程）提高了電離輻射相互作用時(shí)間的測(cè)量。

無機(jī)閃爍探測(cè)器應(yīng)用：

每一種閃爍晶體都有其*的特性和應(yīng)用范圍。對(duì)于高分辨率伽馬射線光譜，通常使用NaI(Tl)或者CsI(Na)（它們具有較高光輸出）。CEBR3具有優(yōu)異的發(fā)光性能和極低的滅光時(shí)間。對(duì)于高能物理應(yīng)用,使用鍺酸鉍Bi4Ge3O12（BGO）晶體（高密度和高Z）拓寬了伽馬射線能量范圍,BGO晶體改善了伽馬射線能量限制。

NaI(Tl)無機(jī)閃爍晶體：

一般閃爍計(jì)數(shù)

健康物理學(xué)

環(huán)境監(jiān)測(cè)

高溫環(huán)境下使用

CsI(Tl)無機(jī)閃爍晶體：

粒子與高能物理

一般輻射檢測(cè)

光電二極管讀出

phoswiches

BGO無機(jī)閃爍晶體：

粒子物理學(xué)