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哈特曼測量儀光學成像系統

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產品型號FPAKA-Hartmannometer

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更新時間：2023-06-12 09:19:40瀏覽次數：169次

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產品簡介

哈特曼測量儀Hartmannometer是為測量光學表面平整度設計的哈特曼分析計量儀器,是用方法和工作原理與菲索干涉儀(Fizeauinterferometer)*相同并且具有相同的性能

詳細介紹

哈特曼測量儀Hartmannometer是為測量光學表面平整度設計的哈特曼分析計量儀器,是用方法和工作原理與菲索干涉儀 (Fizeau interferometer) *相同并且具有相同的性能。
哈特曼測量儀由激光束照射表面進行測量,用Shack-Hartmann波前傳感器測量反射波前。
哈特曼測量儀的*優點（與菲索干涉儀相比）
對振動不敏感
在振動下，哈特曼圖上的斑點會圍繞它們的平均位置移動。通過選擇較長的曝光時間，振動下的光斑質心與無振動時相同。
現場測量
一旦要測量的光學表面對齊，就不需要啟動采集程序。結果顯示在現場。它使消除振動對測量的影響變得更加容易。
具有成本效益的技術
這是一種成本較低的技術，它不使用昂貴的高平坦度光學元件。

哈特曼測量儀技術規格
光譜范圍 122nm~10.6µm
孔徑集成擴束器后無限制
實測曲率集成補償光學元件后無限制
精度 λ/30 rms
橫向分辨率根據要求：通常為孔徑的2/100
接口 USB
哈特曼測量儀軟件適用于Windows 10、8、7
實時顯示Hartmanogram和波前分析：Zernike多項式（標準和條紋）、2D-3D條紋圖、2D-3D相位圖、2D-3D強度圖、M2、PSF、波前P-V&RMS；實時監測參數。

關鍵詞：測量儀計量儀傳感器標準

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