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磁場低溫探針臺

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產品型號FPMIC-SCM-CF

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更新時間：2021-08-16 14:09:56瀏覽次數：75次

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產品簡介

磁場低溫探針臺采用MicroXact低溫磁探針臺技術,滿足電磁鐵、超導磁體或電磁鐵和超導磁體的組合測試應用

詳細介紹

磁場低溫探針臺采用MicroXact低溫磁探針臺技術,滿足電磁鐵、超導磁體或電磁鐵和超導磁體的組合測試應用。這種磁場低溫探針臺可用于低溫自旋電子學測試、自旋轉矩振蕩器測試、霍爾效應測試、量子霍爾效應測試等。
磁場低溫探針臺SCM-CF基于超導磁體的無冷劑低溫探針臺技術,可使用兩個封閉的循環制冷機或CCR（一個用于樣品冷卻，一個用于超導磁體冷卻），因此允許在磁場下進行低溫測試，而單CCR和允許超導磁體溫度和樣品溫度之間的解耦。
這種方法還允許使用具有多個一維磁場的超導磁體。有效的熱管理、隔振和成本效益使這款磁場低溫探針臺非常適合對自旋電子和納米電子器件的測試。
磁場低溫探針臺特點
溫度范圍從10K到400K，溫度精度0.1K （可選4.2K~480K范圍）
閉循環制冷機,節省運營成本,適合無冷媒工作
適合1''尺寸樣品
滿足直流DC到67GHz測試
可配備4個微操作探針臂
可精確XYZ操作，可選配theta角操作
高純度石英提供清晰的光學視窗
高頻振動隔離
可集成電磁體產生水平磁場

磁場低溫探針臺規格參數
適合樣品尺寸：標準1英寸（可達50mm直徑）
熱學參數：
無制冷劑封閉循環制冷機，包括制冷頭,壓縮機,制冷器，需要氦氣接口
溫度范圍：標準10K~400K,可選4.2K~480K
溫度精度：0.1K
溫度控制樣品夾盤
溫度控制微操作臂
溫度檢測輻射屏蔽罩（可選）
真空：標準1.0x10^-5 Torr, 可選配到-10^-6Torr
光學視窗：可選配
顯微鏡：超長工作距離顯微鏡，工組距離高達75mm @10X放大
可選探針：DC, RF, 高功率,主動式等類型
磁場產生：水平磁場，豎直磁場或多維度磁場
磁場強度： 5T@豎直磁場， 2T@水平磁場， 1T@多維磁場
可選配霍爾探針用于主動磁場控制

關鍵詞：振蕩器標準顯微鏡

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