孚光精儀（中國）有限公司
<tfoot id="qqie6"></tfoot>
<ul id="qqie6"></ul> 孚光精儀（中國）有限公司
暫無信息 |
| 產地 | 國產 | 加工定制 | 是 |
|---|
顯微薄膜測量儀價格
是一款多功能薄膜測厚儀和顯微分光光度計，可以結合顯微鏡測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率以及測量薄膜熒光。這款顯微薄膜測試儀通過測量薄膜反射率快速測量薄膜厚度,測量薄膜光學常量（n &k）以及薄膜thick film stacks。
顯微薄膜測量儀價格是一款多功能薄膜測厚儀和顯微分光光度計，可以結合顯微鏡測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率以及測量薄膜熒光。這款顯微薄膜測試儀通過測量薄膜反射率快速測量薄膜厚度,測量薄膜光學常量(n &k)以及薄膜thick film stacks。
整套顯微薄膜測量儀的組成是：光柵光譜儀（200-1100nm)+顯微鏡目鏡 適配器+軟件+顯微鏡（可選）。其中目鏡適配器包含鏡頭，可增加光的收集。標準的40X物鏡可做到測量點直徑約200微米。更高倍數的物鏡的測量點更小。
顯微薄膜測量儀價格軟件
這款薄膜測試儀配備專業的儀器控制，光譜測量和薄膜測量功能的軟件，具有廣闊的應用范圍。該薄膜厚度測試儀軟件能夠實時采集吸收率，透過率，反射率和熒光光譜，并且能夠能夠快速計算出結果。
對于吸收率/透過率模式的配置，所有的典型參數如 A, T可快速計算出來。其他的非標準參數，如signal integration也能測量出來。
對于反射率測量，該薄膜厚度測試儀軟件能夠精確測量膜層小于10層薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光學常量（n & k)。
顯微薄膜測量儀標準參數
可測膜厚： 10nm-150微米；
波長范圍：200-1100nm
精度：0.5%
分辨率：0.02nm
光源：使用顯微鏡光源
光斑大?。河娠@微鏡物鏡決定
計算機要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；
尺寸：120x120x120mm
重量：1.2kg
薄膜厚度測試儀應用
測量薄膜吸收率,透過率
測量化學薄膜和生物薄膜測量
光電子薄膜結構測量
半導體制造
聚合物測量
在線測量
光學鍍膜測量
您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
儀表網 設計制作，未經允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
