薄膜電阻及厚度測試儀 返回列表頁

薄膜電阻及厚度測試儀
薄膜電阻及厚度測試儀采用渦流檢測技術，可按照需求配置單個或多個針對不同樣品的高敏感探頭進行測量，并通過顯示模塊輸出。檢測終輸出結果可顯示為薄膜電阻（Ohms/sq），薄膜電導(Mhos/sq），厚度(單位：um）等。

渦流技術
渦流檢測儀的基本要素是感應探頭。通過交流電流產生一個磁場，當磁場與導電材料接觸時，則會在該材料中感應到渦流。測試材料的特性可產生一系列*結果，可用來測量材料的薄膜電阻。 評估對象與材料接觸的磁場。此磁場相對較弱，不會產生熱能，因此不會破壞材料。渦流技術相比接觸式測量法（例如四探針測試法）有著諸多優勢,與此同時：
不破壞材料
讀取絕緣層內的導電層
采樣頻率高達數萬。

典型用途
防靜電/導電薄膜
天線
汽車
電池
裝飾薄膜/紙張
顯示器
花線電路和柔性電路板
電鍍
玻璃窗
金屬化電容用箔
金屬化標簽
微波感應器
包裝
雷達吸波材料
反射和反光材料
半導體
太陽能
透明導電膜