日本 堀場 防爆氣體分析儀EIA51d/51p 返回列表頁

確保安全的*技術(shù)。

防爆型氣體分析儀誕生。   

    使用凝聚了HORIBA在氣體分析方面成熟*技術(shù)的防爆系類氣體分析儀。它可對(duì)可燃性氣體，爆炸性氛圍下的氣體提供安全并正確的分析環(huán)境。為了進(jìn)一步追求安全性，分析儀裝備了考慮到良好的監(jiān)控性，精準(zhǔn)操作性的界面。同時(shí)還具備對(duì)應(yīng)IEC標(biāo)準(zhǔn)和通信功能（選配功能），使*前瞻性活用變?yōu)榭赡堋Ｒ酝ㄓ眯赃^程用紅外線氣體分析儀為代表，也具備可以對(duì)應(yīng)氧氣，氫氣的各機(jī)型，豐富的產(chǎn)品線可適用于各類用途。一如既往地在追求安全的環(huán)境下，在氣體分析儀領(lǐng)域提供優(yōu)質(zhì)服務(wù)。
 

開發(fā)理念：

對(duì)應(yīng)多種分析需求
易于使用的用戶界面
符合IEC標(biāo)準(zhǔn)、具備通信功能
 

對(duì)應(yīng)氫氣防爆：

繼承了過去的機(jī)型（31系列）的可靠性、安全性，性能全面升級(jí)，可對(duì)應(yīng)“ⅡB+H2”

隔爆型防爆：

內(nèi)壓型防爆：

測定原理：
EIA-51d/51p·TIA-51d/51p:非分散紅外吸收法（干涉修正型）

測定原理：

干涉修正型就是利用圖示紅外線氣體分析儀原理，尤其是對(duì)含有大量干涉成分的樣氣，能夠得到極其精準(zhǔn)的測定值的*方式。在標(biāo)準(zhǔn)型的幾本結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，干涉修正型需要在同一光學(xué)系統(tǒng)上并列配置上測定用檢測器和修正用檢測器。
通過這樣可大大減輕以下影響：

①樣氣中其他成分造成的干涉影響
②外部的震動(dòng)等產(chǎn)生的外部影響
③光源部分、檢測池老化等造成的漂移

主要技術(shù)參數(shù)：