干涉顯微鏡 返回列表頁

用途：
       干涉顯微鏡6JA配以各種附件，還能測量微顆粒，加工紋路混亂的表面，低反射率的工件表面，還能將儀器安置在大型工件的表面進行測量。
儀器測量表面不平深度的范圍為1-0.03微米，可用測微目鏡和照相方法來評定▽10～▽14 光潔度的表面。干涉顯微鏡6JA適用于企業計量室，精密加工車間，及科研和大專院校等單位。用來測量精密零件(平面、圓柱等)表面光潔度的儀器，也可以測量表面刻線、鍍層等深度。
技術參數：
1. 測量表面光潔度范圍：▽10～▽14
2. 工作物鏡數值孔徑：0.65  工作距離：0.5 mm
3. 視場范圍：目視Ø0.25 mm  照相0.21× 0.15 mm
4. 放大倍數：目視500× 照相168×
5. 測微目鏡放大倍數：12.5×
6. 測微鼓分劃值：0.01 mm
7. 綠色干涉濾光片波長：λ ≈ 5300 À 
8. 半寬度：▽λ ≈ 100 À
9. 工作臺行程：5 mm
X-Y向移動范圍：10 mm  旋轉范圍：360°
10. 儀器標準鏡高反射率：≈ 60%  低反射率：≈ 4%
11. 可調變壓器輸入電壓：220V / 50Hz 輸出電壓：4～6V
12. 儀器外形尺寸：270×160×230 mm
13. 儀器重量：≈ 5 Kg
儀器成套性：

1. 儀器主體                 1臺
2. 測微目鏡（12.5X）        1件
3. 狹縫目鏡                 1件
4. V型塊                    1塊
5. 燈泡5W/6V                6只
6. 可調變壓器                  1件
7. 試樣夾                     1件