硅片檢測顯微鏡 返回列表頁

用途：
         GPJ-300高倍硅片檢測顯微鏡適用于對不透明物體進行顯微觀察。儀器配置落射照明 、長距平場消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時還配有內置偏光觀察裝置。本儀器可用于鑒別和分析各種金屬和合金材料及非金屬物質的組織結構，廣泛應用于電子、化工和儀器儀表行業觀察不透明的物質。如金屬太陽能板、多晶硅、單晶硅、太陽能硅片檢測測、集成電路、電子芯片、電路板、液晶板、鍍涂層，及其它非金屬材料，對一些表面狀況進行研究分析的工作等。本儀器系大專院校，科研機構，工廠等的理想儀器。
系統組成簡介：
        GPJ-300電腦高倍硅片檢測測顯微鏡 GPJ-300S數碼型高倍硅片檢測顯微鏡成像系統是通過光電轉換與計算機，數碼相機以及電視機等設備結合在一起，不僅可以在目鏡上觀察，還能在顯示屏幕上觀察實時動態圖像，還可在計算機，數碼相機上將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
性能特點：
l  配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡，視場大而清晰。
l  粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，微動格值:2μm。
l  帶限位鎖緊裝置
l  6V 20W鹵素燈,亮度可調。
l  三目鏡筒,可自由切換正常觀察，可進行99%透光攝影