高倍硅片檢測顯微鏡 返回列表頁

用途：
          GPJ-770 大平臺高倍硅片檢測顯微鏡適用于大物體表面上的特定范圍內微小目標的觀察研究和分析。GPJ-770 大平臺高倍硅片檢測顯微鏡配置配置大移動范圍的機械式載物臺、落射照明器 、長距平場消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時還配有內置偏光觀察裝置。GPJ-770 大平臺高倍硅片檢測顯微鏡可用于鑒別和分析各種金屬、合金材料、非金屬物質的組織結構，廣泛應用于電子、化工和儀器儀表行業觀察不透明的物質。如金屬材料，太陽能板、集成電路、電子芯片、電路板、大液晶板及其它非金屬材料，對一些表面狀況進行研究分析的工作等。GPJ-770 大平臺高倍硅片檢測顯微鏡系大專院校，精密工程學，科研機構，工廠等的理想儀器。
成像系統組成簡介：
            GPJ-770P電腦大平臺高倍硅片檢測顯微鏡 GPJ-770S數碼型大平臺高倍硅片檢測顯微鏡成像系統是通過光電轉換與計算機，數碼相機以及電視機等設備結合在一起，不僅可以在目鏡上觀察，還能在顯示屏幕上觀察實時動態圖像，還可在計算機，數碼相機上將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
性能特點：
l  配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡，視場大而清晰。
l  配置大移動范圍的載物臺，能快速和慢速移動。
l  粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。
l  6V 20W鹵素燈,亮度可調。
l  三目鏡筒,可自由切換正常觀察，可進行99%透光攝影
l  的防霉系統
技術參數：