IC6 薄膜沉積控制器可靠成熟的性能基礎上，增添了更多*的功能，可幫助您實現沉積過程的大價值。IC6 使用我們的 ModeLock 頻率測量系統，提供穩定、高分辨率的速率和厚度測量，速率分辨率可達每 1/10 秒 0.00433 Å/s，是行業中的。IC6 具有其他石英晶體控制器*的性能、品質和功能，賦予您的過程的可重復性。
IC6 薄膜沉積控制器可靠成熟的性能基礎上，增添了更多*的功能，可幫助您實現沉積過程的大價值。IC6 使用我們的 ModeLock 頻率測量系統，提供穩定、高分辨率的速率和厚度測量，速率分辨率可達每 1/10 秒 0.00433 Å/s，是行業中的。IC6 具有其他石英晶體控制器*的性能、品質和功能，賦予您的過程的可重復性。IC6 薄膜沉積控制器
- 技術確保獲得、穩定的速率和厚度測量分辨率，即使在速率極低的情況下
- Auto Z 技術通過自動測定沉積材料的 Z 比值，可提高厚度測量的精度
- 支持多六個來源同時共鍍膜
- 彩色 TFT LCD 顯示屏使用戶很容易看到過程的進展狀況
- 100ms 樣本速率下頻率范圍為 +/-0.0035 Hz
- USB 數據存儲功能可存儲屏幕截圖、配方存儲和數據記錄
- 強大的 I/O 憑借其靈活性可融入簡單或復雜的系統（使用可擴展輸入 (28) 和輸出 (24 繼電器，14 TTL 輸出)，并充分利用邏輯功能（100 個邏輯語句）
- 6 個標準 DAC 輸出和另外 6 個可選輸出用于來源控制、速率或厚度監控
- 可容納多 50 個過程，每個過程 200 層，這些過程關聯到一起，總共可容納 10,000 層。
- 多路傳感器可平均分配為 8 個傳感器
- 4 米 XIU 選件能夠在大型系統中使用較長的真空傳感器電纜
- 可選以太網通信
- 符合 RoHS 標準
典型應用
- 光學鍍膜
- 技術確保獲得、穩定的速率和厚度測量分辨率，即使在速率極低的情況下
- Auto Z 技術通過自動測定沉積材料的 Z 比值，可提高厚度測量的精度
- 支持多六個來源同時共鍍膜
- 彩色 TFT LCD 顯示屏使用戶很容易看到過程的進展狀況
- 100ms 樣本速率下頻率范圍為 +/-0.0035 Hz
- USB 數據存儲功能可存儲屏幕截圖、配方存儲和數據記錄
- 強大的 I/O 憑借其靈活性可融入簡單或復雜的系統（使用可擴展輸入 (28) 和輸出 (24 繼電器，14 TTL 輸出)，并充分利用邏輯功能（100 個邏輯語句）
- 6 個標準 DAC 輸出和另外 6 個可選輸出用于來源控制、速率或厚度監控
- 可容納多 50 個過程，每個過程 200 層，這些過程關聯到一起，總共可容納 10,000 層。
- 多路傳感器可平均分配為 8 個傳感器
- 4 米 XIU 選件能夠在大型系統中使用較長的真空傳感器電纜
- 可選以太網通信
- 符合 RoHS 標準
典型應用
- 光學鍍膜
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