FI-IR光譜儀的測量對象是呈原子狀態的金屬元素和部分非金屬元素，是由待測元素燈發出的特征譜線通過供試品經原子化產生的原子蒸氣時，被蒸氣中待測元素的基態原子所吸收，通過測定輻射光強度減弱的程度，求出供試品中待測元素的含量。
 

　　對FI-IR光譜儀射線強度有影響的因素是什么呢?定量分析是以熒光x光線的強度為根據的，影響FI-IR光譜儀射線強度的因素會影響分析的精確度，以下是主要兩大影響因素：
 

　　一、基體效應:
 

　　基體效應包含吸收效應及加強效應。
 

　　吸收效應包含基材對入射x光線的吸收及對熒光x光線的吸收。由于用射線激發試品時，不只是作用于試品表層并且能穿透相應的厚度進入試品里面，并且試品里面分析元素形成的熒光x光線，也必須穿過相應厚度的試品才可以射出。在穿透過程中，這二種x光線都會因基材元素的吸收而使射線強度減弱，射線減弱會影響對分析元素的激發效率。
 

　　假如入射x光線使基材元素激發所形成的熒光x光線的波長略短于分析元素的吸收邊，它會使分析元素形成二次熒光x光線，進而使分析元素的熒光x光線強度加強，這就是基材的加強效應。
 

　　假如吸收效應占主導作用，則分析結果稍低，假如加強效應占主導作用，則分析結果較高。
 

　　二、不均勻效應:
 

　　不均勻效應就是指試品顆粒大小不均勻及試品表層光潔度對熒光x光線強度的影響。對粉末試品，大顆粒吸收效應強，小顆粒吸收效應弱，因而，要求顆粒粒度盡可能小一些，以減少對x光線的吸收。測短波x光線時，要求粒度在250目以上，測量波長超過0.2nm的長波x射線時，則粒度要求在400目以上。
 

　　固體塊狀試樣一定要磨平拋光，粉末試樣要壓緊并使表層平滑。粗糙表層會使熒光x光線的強度明顯下降。測量短波x光線時，光潔度在1005m左右，測量長波x光線時，光潔度為20-50Mm。