一、用途：
本儀器是以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。適用于測量1.0～80微米即原標準▽3-▽9級表面光潔度。對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。
光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的。是一種間接測量方法。即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。
二、儀器的成套性：
1．儀器本體 1臺
2．測微目鏡 1只
3．坐標工作臺 1件
4．V 型塊 1件
5．標準刻尺（連盒） 1件
6．7 倍物鏡 1組
7．14 倍物鏡 1組
8．30 倍物鏡 1組
9．60 倍物鏡 1組
10．可調變壓器220/4～6/5VA 1只
11．2.1瓦6伏燈泡 (備用件) 3只
12. 數碼攝像系統 1套
13. 適配鏡及接口 1套(品牌電腦及打印機另可選購)
三、規格
測量范圍不平度平均高度值
（微米） | 表面光潔度級別 | 所需物鏡 | 總放大倍數 | 物鏡組件
工作距離
（毫米）
| 視 場
（毫米） |
＞1.0～1.6
＞1.6～6.3
＞6.3～20
＞20～80 | 9
8～7
6～5
4～3 | 60timesN.A.0.55
30timesN.A.0.40
14timesN.A.0.20
7timesN.A.0.12 | 510times
260 times
120 times
60 times | 0.04
0.2
2.5
9.5 | 0.3
0.6
1.3
2.5 |
攝影裝置放大倍數 約6倍
測量不平度范圍 (1.0～80)微米
不平寬度 用測微目鏡 0.7微米～2.5毫米
用坐標工作臺 (0.01～13)毫米
儀器重量 約23公斤
外形尺寸 約180×290×470毫米
一、用途：
本儀器是以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。適用于測量1.0～80微米即原標準▽3-▽9級表面光潔度。對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。
光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的。是一種間接測量方法。即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。
二、儀器的成套性：
1．儀器本體 1臺
2．測微目鏡 1只
3．坐標工作臺 1件
4．V 型塊 1件
5．標準刻尺（連盒） 1件
6．7 倍物鏡 1組
7．14 倍物鏡 1組
8．30 倍物鏡 1組
9．60 倍物鏡 1組
10．可調變壓器220/4～6/5VA 1只
11．2.1瓦6伏燈泡 (備用件) 3只
12. 數碼攝像系統 1套
13. 適配鏡及接口 1套(品牌電腦及打印機另可選購)
三、規格
測量范圍不平度平均高度值
（微米） | 表面光潔度級別 | 所需物鏡 | 總放大倍數 | 物鏡組件
工作距離
（毫米）
| 視 場
（毫米） |
＞1.0～1.6
＞1.6～6.3
＞6.3～20
＞20～80 | 9
8～7
6～5
4～3 | 60timesN.A.0.55
30timesN.A.0.40
14timesN.A.0.20
7timesN.A.0.12 | 510times
260 times
120 times
60 times | 0.04
0.2
2.5
9.5 | 0.3
0.6
1.3
2.5 |
攝影裝置放大倍數 約6倍
測量不平度范圍 (1.0～80)微米
不平寬度 用測微目鏡 0.7微米～2.5毫米
用坐標工作臺 (0.01～13)毫米
儀器重量 約23公斤
外形尺寸 約180×290×470毫米
