塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司
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<ul id="qqie6"></ul> 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司
簡單介紹： 它是一種可以在薄膜生產現場在線測量薄膜厚度的裝置。通過將原來的光譜干涉法與*新開發的高精度膜厚計算處理技術相結合，可以以至少測量間隔至少測量500 mm寬度的膜的膜厚（使用一個單元時）。 0.01秒
| | 線掃描膜厚儀[離線型] |
| | 多通道光譜儀MCPD-9800 / 6800 |
| | 顯微光譜儀OPTM series |
| | 非接觸式光學測厚儀Emios |
| | 膜厚計FE-300 |
| | 光譜橢偏儀FE-5000 / 5000S |
| | 多通道光譜儀MCPD系列，用于膜厚測量 |
| | 超快光譜干涉型測厚儀 |
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