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高速相位差測量儀RE-200

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產品簡介

簡單介紹：高精度控制光軸！3σ≤0.02°用于低延遲測量

詳細介紹

詳情介紹：

特殊長度

可以從0 nm開始進行低（殘留）延遲測量
可以與光軸檢測同時進行延遲（Re。）的高速測量（
可以在0.1秒或更短的時間內完成處理，這相當于世界上*快的速度）。
由于沒有驅動單元，因此可實現高重復性
易于測量，只需設置很少的測量項目
除了550 nm的測量波長外，我們還有各種波長的產品系列。
可以進行Rth測量和全向測量
（需要可選的自動旋轉傾斜夾具）
通過與拉伸測試儀結合使用，可以與薄膜的偏振特性同時評估光彈性
（該系統是定制的）。

測量項目

參考（ρ[°]，Re [nm]）
主軸方位角（θ°）
橢圓率（ε）/方位角（γ）
三維折射率（NxNyNz）

測量目標

相差膜，偏光膜，橢圓膜，視角改善膜，各種功能膜
透明和各向異性的物質，例如樹脂和玻璃（玻璃中的應變，變形等）

產品信息
原則
規格
測量例

相關信息

相關產品

	相差膜/光學材料檢查裝置RETS-100
	反射光譜膜厚儀FE-3000
	膜厚計FE-300
	光譜橢偏儀FE-5000 / 5000S
	多通道光譜儀MCPD-9800 / 6800
	量子效率測量系統QE-2000 / 2100

關鍵詞：驅動單元膜厚計橢偏儀光譜儀

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