塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司
簡單介紹: 除了可以進行高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜儀之外,我們還通過實現自動可變測量機制來支持所有類型的薄膜。除了常規的旋轉光子檢測器方法之外,通過為延遲板提供自動連接/分離機制,還提高了測量精度。
| 反射光譜膜厚儀FE-3000 |
| 膜厚計FE-300 |
| 嵌入式膜厚監測儀 |
| 多通道光譜儀MCPD-9800 / 6800 |
| 光譜干涉晶圓測厚儀SF-3 |
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