塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司
簡單介紹: 基于與NIMS共同開發的單顆粒診斷方法*的測量是可能的。 *與國立材料科學研究所,弘前直人研究員和武田隆史研究員共同研究
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合成熒光粉后,用激發光照射 | 1個粒子收集 | 測量熒光粉的特性 |
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