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激光粒徑分析儀：納米級精度與高效測量的結合
在材料科學、生命科學以及化工領域，粒徑分布的準確測量對于產品質量控制和研發至關重要。激光粒徑分析儀作為一種高精度的測量工具，利用動態光散射法(DLS)來測量粒徑，提供了從納米到微米級別的粒徑分析。上海倍藍光電科技有限公司推出的nanoSAQLA多檢體納米粒徑量測系統，以其**的技術特點和簡便的操作方式，成為了實驗室和工業生產中的得力助手。
nanoSAQLA多檢體納米粒徑量測系統的特點
1. 多檢體連續測量：只需一臺儀器，即可輕松實現五種不同檢體的連續測量。
2. 廣泛的濃度范圍：能夠應對從極低濃度到高濃度的樣品，無需稀釋或濃縮。
3. 高速測量：標準測量時間僅需1分鐘，極大提高了工作效率。
4. 一鍵操作：搭載簡單的測量功能，一鍵即可啟動測量過程。
5. 內置非浸泡型樣品池：避免了樣品交叉污染的問題。
6. 溫度梯度功能：可以測量不同溫度下的粒徑變化，有助于研究溫度對樣品性質的影響。
7. 符合國際標準：測量結果遵照ISO 22412:2017、JIS Z 8828:2013和JIS Z 8826:2005等國際標準。
使用方法
1. 樣品準備：根據樣品的性質，準備適當濃度的樣品溶液。
2. 預熱儀器：開啟儀器，預熱至穩定狀態。
3. 校準：使用標準樣品或已知粒徑的樣品進行校準，確保測量的準確性。
4. 裝載樣品：將樣品注入內置的非浸泡型樣品池中。
5. 設置參數：根據樣品特性和實驗要求，設置測量參數，如溫度、測量時間等。
6. 啟動測量：通過一鍵操作啟動測量程序。
7. 數據分析：測量完成后，分析軟件會自動計算并展示粒徑分布、平均粒徑等數據。
8. 結果輸出：將測量結果以圖表或數值形式輸出，用于進一步分析或報告。
結論
nanoSAQLA多檢體納米粒徑量測系統以其快速、準確、操作簡便的特點，在粒徑分析領域中占據了重要地位。無論是在學術研究還是工業生產中，它都能提供可靠的數據支持，幫助用戶更好地理解和控制樣品的粒徑特性。